共焦拉曼與螢光顯微鏡光學系統的對光步驟(for使用者)對光步驟：1.開啟綠光雷射並熱機15分鐘2.開啟AOM（輸入+24VDC的驅動電壓及+0.8VDC的調變電壓給RFdriver）3.調整反射鏡M1及M2的傾斜角旋鈕，使雷射光通過光圈I1及I2。4.調整反射鏡M3及M4的傾斜角旋鈕，使雷射光通過光圈I3及I4。樣品的放置步驟：Sampleholder放置樣品1.卸下100X物鏡2.將樣品固定在蓋玻片上樣品區偵測區Sampleholder固定在樣品座上3.利用3M膠帶將蓋玻片固定在sampleholder上（樣品要置於在sampleholder中間的空洞中）4.將sampleholder固定在樣品座上（上面的螺絲先稍微旋入，然後再將下面的螺絲完全鎖緊，最後再將上面螺絲完全鎖緊）5.移動樣品的上下左右，使光點打在所要量測的位置6.調整樣品座的傾斜角旋鈕，使樣品表面的反射光通過I37.安裝100X物鏡（鏡頭需滴油）8.將樣品移近物鏡，使過beamsplitter之後的光束直徑為2.5mm（焦點位置的粗調）9.微調pinhole1的上下左右，使過pinhole1的光亮度最大10.微調透鏡L4的左右使反射光通過slit（需掀開光譜儀的蓋子觀察）儀器控制程式說明(進行資料擷取時，要先設定資料的儲存路徑)：物鏡移動平台之控制器光柵之旋轉台的控制器使用電控光柵之旋轉台之前，要先按旋轉台之controller上“rem/loc”按鍵，確保亮起紅燈才可由電腦控制。A.手動控制光柵之旋轉台上圖的“MovingDistance”表示為旋轉台上的移動量，設定完移動量後即可按“Move”開始移動。B.光柵自動掃描上圖為擷取光譜的自動擷取程式，當輸入波長的位移量及掃描範圍後，即可按“Scan”開始掃描。掃描過程中若要終止程式的話，則按“STOPScan”。C.手動控制物鏡上圖的操作方法是，先選擇軸向，再來按“MotorOn”，接著即可依照自己的需求移動物鏡。“Step”為物鏡的一步位移量。輸入移動量後，則按“Go”開始移動。（0.1um≦移動量≦23mm，此23mm是假設actuator的指標位於零點）“指定物鏡的位置”意指要求物鏡移動所輸入的位置上。注意：當物鏡要進行反向移動時，會有9um空轉量，也就是controller上的讀值需扣除9um才是物鏡真正的移動量。D.物鏡二維掃描此二維掃描的面積為正方形，因此設定“掃描面積的長度”即決定掃描面積大小。設定完位移量及掃描長度後即可按“開始掃描”。（注意：按下開始掃描時程式還不會立即運作，需等約十秒後才會開始運作）E.物鏡一維掃描此控制介面使用方法為，先選擇軸向，然後輸入位移量及掃描長度，接著按“一維掃描”。掃描長度最大為0.2mmF.光子計數系統（請看appendixA）樣品表面與移動平台軸向的校準步驟：A.左右方向1.在過beamsplitter之後放置一面反射鏡，將光打至遠處並調整樣品前後位置，使在遠處的beamsize＝2.5mm2.將物鏡位移至x＝200um（操作方式請看儀控程式說明），並觀察遠處的beamsize是否有明顯變化，假如beamsize變大（小）則將調整樣品座的傾斜角旋鈕使樣品遠離（靠近）物鏡，然後移動物鏡的前後位置使beamsize回到2.5mm，並紀錄前後移動的距離，然後從移動的距離，得出樣品座傾斜角旋鈕的旋轉量。（對照表如下）旋鈕的旋轉量(格)物鏡前後的位移量(um)10.52131.53.轉動從上述對應所需的旋轉量，由於轉動傾斜角旋鈕時，物鏡與樣品的前後位置也會位移，beam會變化很大，此時需調整樣品座的前後位置，使beamsize回復至約為2.5mm。（如果旋轉量超過1.5圈的話，則以上三種參數的倍數組合來進行校準）4.將物鏡移回x＝0um，然後移動物鏡前後位置使beamsize約為2.5mm，然後再將物鏡位移至x＝200um，並觀察beamsize是否還有明顯變化，如果有則持續步驟1、2，直到beamsize無明顯變化為止（肉眼判斷）B.上下方向的校準方法同上物鏡二維掃描步驟：上圖為PMT的高壓電源供應器，面板上有兩個旋鈕，左邊旋鈕的單位為kV，右邊為V前置放大器之電源供應器1.在filter座放置notchfilter（filter上的箭頭方向即為光的行進方向）2.開啟供應PMT的高壓電源，將電壓調至-1100V3.開啟preamplifier的電源，此處需打開兩個開關，其一為NIMBIN的主機電源，另一個為提供±6V的電源供應器。4.將PMT的訊號線接至示波器，從示波器觀察訊號的振幅及速率，而振幅及速率則分別是之後在光子計數器設定...
