本科毕业设计论文题目简易数字集成电路测试仪的设计与实现所在系电气与信息工程系专业电子信息工程班级电信xxx学号xxxxxxxx学生姓名xxxxxx指导教师xxxxxx2010年6月摘要摘要随着数字集成电路日益广泛的应用，其相关的测试技术也显得愈发重要。为了保证数字集成电路的功能和性能参数符合技术要求，在集成电路的设计验证、产品检验以及现场维护等方面都需要对集成电路进行测试。而测试设备是必不可少的工具，因此研究它们的测试技术和开发测试设备具有重要的意义。本文所设计的集成电路测试仪采用MCS-51单片机为核心，构建数字集成电路的测试仪器，该仪器能够通过单片机程序对数字集成芯片插座进行控制和测试可以完成对TTL74/54、CMOS4000/4500系列芯片的测试。测试仪使用了串口通信方式的LCD汉字液晶显示器，以便节省出更多的单片机接口供测试更多管脚的集成电路。针对不同型号的集成电路Vcc和GND位置不同，在电路中使用了P沟道CMOS管来作为Vcc切换开关。测试仪设计了总线标准接口RS-232，能够实现与PC机的联机。通过对大量的TTL、CMOS集成电路的分析，建立了测试数据库。通过编写测试程序，最终以速度快、准确率高的测试结果实现了测试TTL74/54、CMOS4000/4500系列芯片的任务。论文第一章阐述此次设计的背景及意义、国内外数字电路测试系统现状、本文要解决的主要问题。第二章对系统总体方案进行描述。第三章详细说明整个硬件系统的构成。第四章主要说明软件测试的实现。第五章叙述测试结果。通过对实验电路和程序进行测试和试运行，结果证明达到了设计要求。以MCS-51单片机为核心的数字集成电路测试仪，硬件电路简单可靠，软件测试精确快速。并且具有体积小、重量轻、成本低等优点。关键词：数字集成电路，功能测试，MCS-51单片机，LCDI西安交通大学城市学院本科生毕业设计（论文）IIABSTRACTABSTRACTWiththeincreasinglywidespreadapplicationofdigitalintegratedcircuits,therelatedtestingtechnologybecomesincreasinglyimportant.Toensurethefunctionsofdigitalintegratedcircuitsandperformanceparametersmeetthetechnicalrequirements,inintegratedcircuitdesignverification,producttestingandon-sitemaintenanceandotheraspectsneedtotestintegratedcircuits.Thetestequipmentisessentialtotools,testtechnologyresearchanddevelopmentoftheirtestequipmentisofgreatsignificance.ThisintegratedcircuittesterdesignedbyMCS-51microcontrollercore,builddigitalintegratedcircuittestingequipment,theequipmentisabletoprocessthedigitalsinglechipcontrolICsocketsandtest,tobecompletedonTTL74/54,CMOS4000/4500seriesofchiptesting.TesterusesserialcommunicationmethodcharacterliquidcrystaldisplayLCDtosavemoreoftheMCUinterfacepinsoftheintegratedcircuitfortestingmore.DifferenttypesofICGNDandVCCdifferentpositions,thecircuitusedintheP-channelCMOStubeastheVccswitch.TesterdesignedbusstandardinterfaceRS-232,canbeachievedwithPC-Online.ThroughalargenumberofTTL,CMOSintegratedcircuitsanalysis,thetestdatabase.Bywritingtestprocedures,whichwilleventuallyspeed,highaccuracytestresultstoachievethetestTTL74/54,CMOS4000/4500serieschiptask.Thefirstchapterdescribedthebackgroundandsignificanceofthisdesign,digitalcircuittestsystemathomeandabroad,thispapertosolvethemainproblem.Thesecondchapterdescribestheoverallprogramsofthesystem.Thethirdchapterdetailsthecompositionoftheentirehardwaresystem.Fourthchapterexplainstheimplementationofsoftwaretesting.ChapterVdescribesthetestresults.Throughtheexperimentalcircuitandproceduresfortestingandtrialoperation,theresultsprovetothedesignrequirements.WithMCS-51microcontrollerasthecoredigitalICtester,thehardwarecircuitissimpleandreliable,preciseandrapidsoftwaretesting.Andsmallsize,lightweightandlowcost.KEYWORDS:DigitalIC,Functionaltest,MCS-51single-chi...
