射频屏蔽室屏蔽效能的测试技术1 前言这些年来,发表了很多关于射频屏蔽室和屏蔽小室的文章
这些文章涉及到屏蔽室的购买、结构设计和安装,以及有关的接地和电气问题
虽然这些文章提供了许多信息,但没有一篇文章说清了屏蔽室和屏蔽小室的屏蔽效能测试问题
本文解释和描述了工业上所采用的屏蔽室屏蔽效能的测试过程
2 屏蔽效能测试屏蔽室或屏蔽小室的屏蔽效能测试或性能测试是安装的最后阶段,这也可能是最重要的阶段
不幸的是,测试过程被认为是麻烦的或在某种程度上被认为是不可思仪的
事实上,屏蔽效能测试很简单,并与 MIL-STD-220 也就是插入损耗测试标准是一致的
主要的区别在于测试所用的设备不同
屏蔽效能测试基本上等同于电子测试设备的校准
与测试设备一样,当屏蔽小室的屏蔽效能降低时就需要对其进行校准
当校准屏蔽小室或测定屏蔽小室的屏蔽效能时,要使用辐射测试技术
所幸的是美国军方和安全部门已建立了相应的标准
这些标准描述了特定频率和测试场地条件下的测试方法、设备和测试过程
这些测试过程经过微小的调整,就能应用于任何屏蔽小室的安装,并满足用户要求
测试屏蔽效能最经常用到的两个测试标准或测试程序是 MIL-STD-285 和 NSA65-6
这些文件描述了对设备配置和测试场地的要求
每个程序中也规定了测试频率和衰减量
3 测试标准的描述3
1MIL-STD-285近年来,MIL—STD—285 不但在工业界广为应用,而且迄今为止应用最为广泛°MIL—STD—285 规定的测试程序在屏蔽室规范上经常被引用,但其频率需根据用户要求进行调整
MIL-STD-285 是第一个颁布的用于测试射频屏蔽小室标准,它颁布于 1956 年 6月,用于替代颁布于 1954 年 8 月的 MIL-A-18123(SHIPS)
MIL-STD-285 标准的主要目的是为了建立一种标准或者方法,用于测量射频屏蔽室的衰减特性