光刻工艺基础知识PHOTO 光刻工艺基础知识PHOTO (注:引用资料) 光刻工艺基础知识 PHOTO PHOTO 流程
答:上光阻→曝光→显影→显影后检查→CD 量测→Overlay 量测 何为光阻
其分为哪两种
搭:Photoresist(光阻)
是一种感光的物质,其作用是将Pattern 从光罩(Reticle)上传递到Wafer 上的一种介质
其分为正光阻和负光阻
答:正光阻,是光阻的一种,这种光阻的特性是将其曝光之后,感光部分的性质会改变,并在之后的显影过程中被曝光的部分被去除
答:负光阻也是光阻的一种类型,将其曝光之后,感光部分的性质被改变,但是这种光阻的特性与正光阻的特性刚好相反,其感光部分在将来的显影过程中会被留下,而没有被感光的部分则被显影过程去除
何谓 Photo
答:Photo=Photolithgraphy,光刻,将图形从光罩上成象到光阻上的过程
Photo 主要流程为何
答: Photo 的流程分为前处理,上光阻,Soft Bake, 曝光,PEB,显影,Hard Bake等
何谓PHOTO 区之前处理
答:在Wafer 上涂布光阻之前,需要先对Wafer 表面进行一系列的处理工作,以使光阻能在后面的涂布过程中能够被更可靠的涂布
前处理主要包括Bake,HDMS 等过程
其中通过Bake 将Wafer 表面吸收的水分去除,然后进行HDMS(六甲基乙硅氮烷,以增加光阻与晶体表面附着的能力)工作,以使Wafer 表面更容易与光阻结合
答:上光阻是为了在Wafer 表面得到厚度均匀的光阻薄膜
光阻通过喷嘴(Nozzle)被喷涂在高速旋转的Wafer 表面,并在离心力的作用下被均匀的涂布在Wafer 的表面
何谓Soft Bake
答:上完光阻之后,要进行Soft Bake,其