下载后可任意编辑可 靠 度 測 試 規 範Reliability Test Specification編號No.WI7308修訂日期Amendment Date版本VersionV.01頁次Page1發行日期Release Date90.11.12可 靠 度 測 試 項 目 目 錄NOEvaluation Test Items 評價項目1Temperature Distribution 溫度分布2Component Temperature Rise 元件溫度上昇3Parts Derating 元件餘裕度 4Thermal Runaway 熱暴走5High Temperature Short Circuit 高溫短路6Life of Electrolytic Capacitor 電解電容算出壽命7Noise Immunity 雜訊免疫能力8Electro Static Discharge 靜電氣9Lightning Surge 雷擊10Input ON/OFF At High Temperature 高溫輸入 ON/OFF11Low Temperature Operation 低溫動作確認12Dynamic Source Effect 動態輸入變動13Fan Abnormal Operation FAN FAN 異常動作14Vibration 振動15Shock 衝擊16Abnormal Ripple 異常漣波確認17High Temperature Test 高溫測試18Low Temperature Test 低溫測試19Temperature /humidity Test 溫溼度循環測試20Strife Test 壓力測試21PLD Test 輸入瞬斷測試 常溫、 常濕: ℃℃定義濕溫度５～３５, 相對溼度４５﹪～８５﹪ＲＨ可 靠 度 測 試 規 範編號No.WI7308修訂日期Amendment Date下载后可任意编辑Reliability Test Specification版本VersionV.01頁次Page2發行日期Release Date90.11.121. Temperature distribution 溫度分布: 1.1 目的: 確保待測物之可靠度; 確認各元件均在溫度規格範圍內使用及有無元件異常 溫度上升。 1.2 適用: 所有機種適用。 1.3 測試條件: a.輸入電壓: 規格範圍之最小、 最大值。(AC 115V/230V→AC 90V/265V) b. 負載: 100% (最小 0% 、 最大,100%)。 c.輸出電壓: 額定。 d.周圍溫度: 常溫。 e.接線圖: 1.4 測試方法:a.輸入電壓加入後, 穩定狀況下, 測元件表面及銲接點之溫度分佈。b.參考「溫度 Derating 率」。c.量測之溫度與溫度 Derating 率比較, 確認有無異常發熱元件, 參考「溫度 Derating 率」。可 靠 度 測 試 規 範Reliability Test Specification編號No.WI7308修訂日期Amendment Date版本VersionV.01INPUT SOURCE待測物負載短路用治具溫度記錄器下载后可任意编辑頁次Page3發行日期Release Date90.11.12 1.5 溫度 Derating 率NO 元件名稱溫度判定標準備註１...
