AOI检验技术目录CONTENTS基本介绍编程首检AOI测试常见问题典型不良案例分析预防及措施二三四一五六一、基本介绍AOI（AutomatedOpticalInspection）的全称是自动光学检测，是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。当自动检测时，机器通过摄像头自动扫描PCB，采集图像，测试的焊点与数据库中合格的参数进行比较，经过图像处理，检查出PCB上的缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来，供维修人员修正。为亮带区正常爬锡面、TopLight目前我司使用AOI设备为德律科技（TRI），有TR7700SII与TR7500SIII两种，主要介绍TR7500SIII。测试尺寸50X50mm～510X460mm1.1设备相关原理TR7500SIIIAOI演算原理：2D:影像比对+灰阶运算（亮度计算）+色差处理+文字识别+逻辑运算塔式环状RGB＋W彩色LED光源多分区多角度光源设置内置硬体中无需人工手动调整UniformLight（均匀光）SolderLight（锡形光）ComponentLight（低角度光）MarkingLight（白光）1.2检测的灯光机台配有四种不同的光源供切换，其包含：均勻光、锡形光、低角度光与白光。均勻光一般使用于扫描全板大图，锡型光用于检测元件的爬锡处，低角度光用于检测元件本体上的文字印刷，而白光是用于对位标记、坏板标记或条码。在”检测框参数设定面板”中”硬体设定”的”灯光”进行切换检测光源的动作。均匀光锡形光低角度光白光均勻光下锡形光下低角度光下白光下多光源可以保证文字面更清楚，如在低角度光下文字效果是最好的。1.3相关灯光附图均勻光下錫型光下低角度光下白光下多光源可以保证破损更容易檢出，如在锡型光下破损处呈现红色。1.3相关灯光附图均勻光下錫型光下低角度光下白光下多光源可以保证粘锡更容易检出，如在低角度光下粘锡处呈现亮色。1.3相关灯光附图对于黑色元件或者黑色晶体的文字,在均勻光下清析可见,从而很好检出错件&极反黑色晶体元件文字1.3相关灯光附图黑色晶体元件文字黑色晶体元件文字对于黑色类元件或晶体破损,在锡形光下可以使破损呈现出彩色,从而很好的将破损检出圖一圖二圖三1.3相关灯光附图1.4相关不良附图1.5代料影像处理方式新增加到代料显示/编辑区的影像，可以由四种方式来进行图像处理动作：权重法(Weighting)与色彩空间法(ColorSpace)、RGB法与HeightMap法(需要有3D雷射装置才能使用)。由[检测框参数设定面板]中[基本参数与其相对应的合格标准]的[影像模式]进行切换代料影像处理的动作。权重法(Weighting)：此方法是利用红(R)、绿(G)、蓝(B)三色的权重数值调整与门坎值设定来变更代料影像的灰阶值，其操作接口如下图所示。左方的直方图为此检测框内依据所设定权重下的亮度分布，而右方是设定三色权重的调整阀。一般而言，彩色图像转成灰阶图像作图像处理时，灰阶值的计算公式是红色阶值*红权重比例+绿色阶值*绿权重比例+蓝色阶值*蓝权重比例。其红权重比例默认值为0.3(30%)，绿权重比例默认值为0.59(59%)，而蓝权重比例默认值为0.11(11%)，当勾选[预设权重]时会自动切回此值。用户可以在组件原图画面的左下角看到鼠标所标示位置的三色色阶值与计算出来的总灰阶值。如下图所示，鼠标所点选的位置其灰阶值为60，经由0.60*0.30+0.53*0.59+0.35*0.11所计算出来。红绿蓝总灰阶值1.6代料影像处理方式色彩空间法(ColorSpace)：此方法是利用选取颜色与色彩强度来变更代料影像，其操作接口如下图所示，主要可以分为亮度分布图区与色彩空间图区。亮度分布图区(Intensity)：此区显示出影像摄取图的亮度分布，纵轴是像素总数，横轴是亮度(范围0~255)。可以调整控制条(用鼠标移动两端的控制键或者使用鼠标滚轮来放大、缩小所要摄取的区域)，如下图红圈所标示。调整过后，下方的蓝色柱形图的两端会显示出所设定出来的亮度范围，如下图红方块所标示。亮度分布区色彩空间分布区GBR色彩空间区(ColorSpace)：由RGB三个轴所组成的球面色彩分布图。每个轴由两个方框控制点来代表其上下限(每个轴上的两个方块仅能在所在的轴上移动)，而所围出来的交集区即为选取色色彩空间图区，另外，X符号是选色区域交集中心点，为区域代表色。可以拖曳中心点来移动交集区、双点击中心点来全选色彩空间或...
