集成电路测试原理及方法资料

Harbin Instituteof Technology集成电路测试原理及方法简介院系：电气工程及自动化学院姓名： XXXXXX 学号： XXXXXXXXX 指导教师： XXXXXX 设计时间： XXXXXXXXXX 摘要随着经济发展和技术的进步，集成电路产业取得了突飞猛进的发展。集成电路测试是集成电路产业链中的一个重要环节，是保证集成电路性能、质量的关键环节之一。集成电路基础设计是集成电路产业的一门支撑技术，而集成电路是实现集成电路测试必不可少的工具。本文首先介绍了集成电路自动测试系统的国内外研究现状，接着介绍了数字集成电路的测试技术，包括逻辑功能测试技术和直流参数测试技术。逻辑功能测试技术介绍了测试向量的格式化作为输入激励和对输出结果的采样，最后讨论了集成电路测试面临的技术难题。关键词 ：集成电路；研究现状；测试原理；测试方法目录一、引言 ...................................................................................................................................... 4二、集成电路测试重要性.......................................................................................................... 4三、集成电路测试分类 .............................................................................................................. 5四、集成电路测试原理和方法.................................................................................................. 64.1. 数字器件的逻辑功能测试 ....................................................................................................... 64.1.1 测试周期及输入数据.............................................................................................................. 84.1.2 输出数据 ................................................................................................................................ 104.2 集成电路生产测试的流程 ..................................................................................................... 12五、集成电路自动测试面临的挑战........................................................................................ 13参考文献 ...................................................................................