集成电路的电磁兼容测试当今， 集成电路 的 电磁兼容 性越来越受到重视。电子设备和系统的生产商努力改进他们的产品以满足电磁兼容规范，降低电磁发射和增强抗干扰能力。过去，集成电路生产商关心的只是成本，应用领域和使用性能，几乎很少考虑电磁兼容的问题。即使单片集成电路通常不会产生较大的辐射，但它还是经常成为电子系统辐射发射的根源。当大量的数字信号瞬间同时切换时便会产生许多的高频分量。尤其是近年来，集成电路的频率越来越高，集成的晶体管数目越来越多，集成电路的电源电压越来越低，加工芯片的特征尺寸进一步减小，越来越多的功能，甚至是一个完整的系统都能够被集成到单个芯片之中，这些发展都使得芯片级电磁兼容显得尤为突出。现在，集成电路生产商也要考虑自己产品电磁兼容方面的问题。集成电路电磁兼容的标准化由于集成电路的电磁兼容是一个相对较新的学科，尽管对于电子设备及子系统已经有了较详细的电磁兼容标准，但对于集成电路来说其测试标准却相对滞后。国际电工委员会第47A 技术分委会 (IEC SC47A)早在 1990 年就开始专注于集成电路的电磁兼容标准研究。此外，北美的汽车工程协会也开始制定自己的集成电路电磁兼容测试标准SAE J 1752 ，主要是发射测试的部分。1997 年， IEC SC47A下属的第九工作组WG9 成立，专门负责集成电路电磁兼容测试方法的研究，参考了各国的建议，至今相继出版了150kHz －1GHz的集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。此外，在脉冲抗扰度方面，WG9 也正在制定对应的标准IEC62215 。目前， IEC61967标准用于频率为150kHz到 1GHz 的集成电路电磁发射测试，包括以下六个部分：第一部分：通用条件和定义(参考 SAE J1752.1)；第二部分：辐射发射测量方法—— TEM 小室法 (参考 SAE J1752.3)；第三部分：辐射发射测量方法—— 表面扫描法 (参考 SAE J1752.2)；第四部分：传导发射测量方法—— 1Ω /150 Ω 直接耦合法；第五部分：传导发射测量方法—— 法拉第笼法WFC(workbench faraday cage)；第六部分：传导发射测量方法—— 磁场探头法。IEC62132标准，用于频率为150kHz到 1GHz 的集成电路电磁抗扰度测试，包括以下五部分：第一部分：通用条件和定义；第二部分：辐射抗扰度测量方法—— TEM 小室法；第三部分：传导抗扰度测量方法—— 大量电流注入法(BCI) ；第四部分：传导抗扰度测量方法—— 直接射频功率注...
