ITO导电玻璃检验标准

精心整理1.0 范围本标准准适用于正星光电科技有限公司生产的 ITO 产品。2.0 规范性引用文件2.1JISB0601—1994 表面微观波纹度测量过程和方法的标准。2.2GB2828—2003 计数抽样检验程序[第一部分按照接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划]。3.0 玻璃基片的规格3.1 长度及宽度的允许偏差、厚度允许偏差表序号1检验项目长度/宽度标准范围±0.20mm1.10mm±0.1mm2厚度0.70mm±0.05mm0.55mm±0.05mm0.4/0.33mm±0.05mm33.2 垂直度玻璃基片的垂直度的公差等级 a/L≤0.1%（见图 1，a 为公差带，L 为被测玻璃基片的相应边长）。图 1 玻璃基片的垂直度3.3 弯曲度（h/L)图 2 玻璃基片的弯曲度，不允许 S 形弯曲3.4 微观波纹度（玻璃的浮法锡面）微观表面波纹度的数值 Rt 的最大值应符合表 2 要求序号1厚度1.10mm玻璃类型非强化强化非强化强化30.55mm非强化强化43.5 磨边倒角:0.4/033mm非强化强化弯曲度≤0.10%≤0.20%≤0.15%≤0.25%≤0.15%≤0.30%≤0.15%≤0.30%≤0.30um/20mm≤0.25um/20mm≤0.15um/20mm微观波纹度垂直度≤0.10%宽座角尺和塞尺千分尺测量方法数显游标卡尺20.70mm≤0.20um/20mmb切角磨边示意图R 型边a向精心整理编号1234567项目C 型倒边R 型倒边标识角相同角崩边破裂边、角未磨标准要求0.05mm≤W≤0.4mm宽度:0.1mm≤W≤1.0 曲半径:R≤50mmb=2.0±1.0mmc=5.0±1.0mmA=1.5±0.5mm长≤1mm,宽≤0.3mm深度≤1/2 基片厚度不允许不允许检验方法10 倍放大镜10 倍放大镜10 倍放大镜10 倍放大镜10 倍放大镜目测目测3.6 表面质量包括内部气泡、夹杂物、表面凹坑、异色点等。点状缺陷的直径 d 定义为：d=（L+W）/2，见图 5。划伤缺陷的定义为：L3mm,W0.03-0.07mm 见图 6：图 5 点状缺陷的尺寸图 6 划伤图形的尺寸3.6.1 双面 ITO 产品表面质量检验标准No缺陷分类A 品标准范围B 品测量方法1内部气泡、杂质点、针眼、污点、 d≤0.05mm 不计锡斑、亮点、表0.050.20mm 不允许d=(W+L)/2玻筋D ≤ 0.2mm,10个 / 片 , 允许;D>0.2mm,不允许.2日光灯下不可见3划伤4污染5膜层针孔d=(L+W)/2毛边.锡斑.发霉678裸眼≥1000LUX宽度 W≤0.03mm,不计;0.03mm≤W≤（30W 日0.07mm,单个长度≤ 3mm,1 条/片允光灯）许;W>0.07mm,不允许.光照条件距离玻使用专用清洗剂经过正常清洗过程后清洗不干净的沾污不允许璃 30cm（注：客户有特d≤0.05mm 不计d≤0.05mm 不...