基于集成电路应力测试认证的失效机理 2 2 7 内容列表 AEC-Q100 基于集成电路应力测试认证的失效机理 附录1:认证家族的定义 附录2:Q100 设计、架构及认证的证明 附录3:邦线测试的塑封开启 附录4:认证计划和结果的最低要求 附录5:决定电磁兼容测试的零件设计标准 附录6:决定软误差测试的零件设计标准 附件 AEC-Q100-001 邦线切应力测试 AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-Q100-009 电分配的评估 AEC-Q100-010 锡球剪切测试 AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试 AEC-Q100-012 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 3 2 7 感谢 任何涉及到复杂技术的文件都来自于各个方面的经验和技能,为此汽车电子委员会由衷承认并感谢以下对该版文件有重要贡献的人: 固定会员: 准会员: 4 2 7 特邀会员: 其他支持者: 5 2 7 注意事项 AEC 文件中的材料都是经过了AEC 技术委员会所准备、评估和批准的
AEC 文件是为了服务于汽车电子工业,无论其标准是用在国内还是国际上,都可排除器件制造商和采购商之间各方面的不一致性,推动产品的提高和可交换性,还能帮助采购商在最小的时间耽搁内选择和获得来自那些非 AEC 成员的合适的产品
AEC 文件并不关注其采纳的内容是否涉及到专利、文章、材料或工艺
AEC没有认为对专利拥有者承担责任,也没有认为要对任何采用 A