(完整)JESD22 简介+目录 顺序号 标准编号 简称 现行版本 标准状态 标准项目 1。 A100 D Jul 2013 现行 循环温湿度偏置寿命 2。 A101 THB C Mar 2009 现行 稳态温湿度偏置寿命 3. A102 AC D Nov 2010 现行 加速水汽抵抗性—无偏置高压蒸煮（高压锅） 4。 A103 HTSL D Dec 2010 现行 高温贮存寿命 5. A104 TC D Mar 2009 现行 温度循环 本实验用来确定组件、互联器件对交替温度极限变化产生的机械应力的耐受性 6. A105 PTC C Jan 2004 现行 上电温循 适用于半导体器件，在交替的高低温极限中周期的施加卸除偏压，用于模拟样件所遭受的最恶劣环境 7。 A106 B Jun 2004 现行 热冲击 8。 A107 C Apr 2013 现行 盐雾 9。 A108 HTOL D Nov 2010 现行 温度，偏置电压，以及工作寿命 10. A109 B Nov 2011 现行，指向军标 密封 11. A110 HAST D Nov 2010 现行 高加速温湿度应力试验（HAST）（有偏置电压未饱和高压蒸汽） 12。 A111 A Nov 2010 现行 安装在单面板底面的小型表贴固态器件耐浸焊能力的评价流程 13. A112 / 被替代 塑封表贴器件水汽诱发的应力敏感性（被J—STD-020替代） 14。 A113 PC F Oct 2008 现行 塑封表贴器件可靠性试验前的预处理 15。 A114 F Dec 2008 现行 静电放电敏感性试验（ESD）人体模型（HBM) 16。 A115 C Nov 2010 现行 静电放电敏感性试验(ESD）机器模型（MM） 17. A117 C Oct 2011 现行 电可擦除可编程只读存储器（EEPROM）编程/擦除耐久性以及数 据 保 持 试验 18。 A118 UHST A Mar 2011 现行 加速水汽抵抗性——无偏压 HAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽） 高加速温湿度应力试验是 为 评估 非 气 密性固态设 备器件在潮 湿的环境中的可靠性。 19。 A119 Nov 2004 现行 低温贮存寿命 20。 A120 A Jan 2008 现行 用于集 成 电路 的有机材 料 的水汽扩 散 率 以及水溶 解度试验方 法 21. A121 A Jul 2008 现行 锡 及锡 合 金 表面镀 层 晶 须 生长 的测 试方 法 22. A122 Aug 2007 现行 功 率 循环 23. B100 B Jun 2003 现行 物 理尺 寸 24。 B101 B Aug 2009 现行 外 部 目检 25。 B102 E Oct 2007 现行 可焊性 26. B103 B Jun 2002 2 现行 振 动 ，变频 27. B104 C ...
