(完整)JESD22 简介+目录 顺序号 标准编号 简称 现行版本 标准状态 标准项目 1
A100 D Jul 2013 现行 循环温湿度偏置寿命 2
A101 THB C Mar 2009 现行 稳态温湿度偏置寿命 3
A102 AC D Nov 2010 现行 加速水汽抵抗性—无偏置高压蒸煮(高压锅) 4
A103 HTSL D Dec 2010 现行 高温贮存寿命 5
A104 TC D Mar 2009 现行 温度循环 本实验用来确定组件、互联器件对交替温度极限变化产生的机械应力的耐受性 6
A105 PTC C Jan 2004 现行 上电温循 适用于半导体器件,在交替的高低温极限中周期的施加卸除偏压,用于模拟样件所遭受的最恶劣环境 7
A106 B Jun 2004 现行 热冲击 8
A107 C Apr 2013 现行 盐雾 9
A108 HTOL D Nov 2010 现行 温度,偏置电压,以及工作寿命 10
A109 B Nov 2011 现行,指向军标 密封 11
A110 HAST D Nov 2010 现行 高加速温湿度应力试验(HAST)(有偏置电压未饱和高压蒸汽) 12
A111 A Nov 2010 现行 安装在单面板底面的小型表贴固态器件耐浸焊能力的评价流程 13
A112 / 被替代 塑封表贴器件水汽诱发的应力敏感性(被J—STD-020替代) 14
A113 PC F Oct 2008 现行 塑封表贴器件可靠性试验前的预处理 15
A114 F Dec 2008 现行 静电放电敏感性试验(ESD)人体模型(HBM) 16
A115 C Nov 2010 现行 静电放电敏感性试验(ESD)机器模型(MM) 17
A117 C Oct 2011 现行 电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)编程/擦除耐久性