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基于AVR单片机的二极管参数测试仪制作

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实训(论文)说明书题 目:基于 ATmega16 单片机的 二极管参数测试仪的制作 系 别:机械电子工程系 专 业:机械电子工程 指导老师:郭振军 学生姓名:窦臻荣,梁宽 学 号:1053200112 , 1053100324 题目类型: 理论讨论 实验讨论 工程设计 工程技术讨论 软件开发2024 年 5 月 27 日√下载后可任意编辑摘 要 本次设计的二极管参数测试仪,采纳 ATmega16 单片机作为二极管的检测和控制核心;采纳串行口通信数模转换芯片 TLC5615,达到用 AD 采集方式检测二极管的各项参数。该设计电路结构简单、可靠性高,各种信息一目了,搭建了有好的操作界面。关键词:单片机;正向压降;二极管Abstract The design of the diode parameter tester, using ATmega16 microcontroller as the diode detection and control of the core; using serial port communication digital-analog conversion 下载后可任意编辑chip TLC5615, reached with the AD acquisition mode detector diode parameters. The design is simple circuit structure, high reliability, a variety of information at a glance, to build a good user interface.Key words:MCU; forward voltage drop; diode下载后可任意编辑目 录引言.......................................................- 1 -1.1 要求...................................................- 1 -2 恒流源系统..............................................- 1 -2.1 恒流源方案一...........................................- 1 -2.2 恒流源方案二............................................- 2 -3 参数检测的具体设计与实现..................................- 3 -3.1 核心芯片...............................................- 3 -3.1.1 ATmega16.............................................- 3 -3.2 电压采集电路设计方案...................................- 4 -3.3 电源系统...............................................- 5 -5 系统性能测试............................................- 6 -6 结论....................................................- 6 -谢 辞.....................................................- 7 -参考文献....................

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