第五章习题 1
在一个n 型半导体样品中,过剩空穴浓度为1013cm-3, 空穴的寿命为100us
计算空穴的复合率
用强光照射 n 型样品,假定光被均匀地吸收,产生过剩载流子,产生率为,空穴寿命为
(1)写出光照下过剩载流子所满足的方程; (2)求出光照下达到稳定状态时的过载流子浓度
有一块 n 型硅样品,寿命是 1us,无光照时电阻率是 10•cm
今用光照射该样品,光被半导体均匀的吸收,电子-空穴对的产生率是 1022cm-3•s-1,试计算光照下样品的电阻率,并求电导中少数在流子的贡献占多大比例
scmpUscmpUp3171010010313/10U100,/10613得:解:根据
求:已知:gpgpdtpdgAetpgpdtpdLLtL
00)2()(达到稳定状态时,方程的通解:梯度,无飘移
解:均匀吸收,无浓度cmspqnqqpqnpqnpcmqpqncmgnpgppnpnpnpnL/06
0500106
1101350106
0:101:1010100
1916191600'000316622光照后光照前光照达到稳定态后 4
一块半导体材料的寿命=10us,光照在材料中会产生非平衡载流子,试求光照突然停止20us 后,其中非平衡载流子将衰减到原来的百分之几
n 型硅中,掺杂浓度ND=1016cm-3, 光注入的非平衡载流子浓度n=p=1014cm-3
计算无光照和有光照的电导率
3500106
01191610''