可靠性试验(AECQ200REVC)VIP专享

可 靠 性 试 验 作 业指导书 文 件 编 号 : QW G-123 版 本 号 : O 修 订 人 :邓 志 敏 批 核 人 ： 第 1 页 共 10 页 生 效 日 期 : 29/05/2008 复 核 人 : 1. 范 围 除 另 外 说 明 外 ， 本 标 准 应 用 于 AT 切 型 晶 体 内 部 ， 仅 限 汽 车 客 户 的 所 有 类 型 。 2. 可靠性规格 表 1： 可靠性测试的 样品 NO 包装 1 7x5 陶瓷 SMD(焊缝密封) 2 5x3.2 陶瓷 SMD(焊缝密封) 3 3.2x2.5 陶瓷 SMD(焊缝密封) 4 8x4.5 陶瓷 SMD(玻璃材料) 5 5x3.2 陶瓷 SMD(玻璃材料) 6 3.2x2.5 陶瓷 SMD(玻璃材料) 7 低调 8 49U 金属罐 每部 分进行测试的 要求的 规定 NO 普通 无铅部 分且 TPM 部 分， 且 1 普通汽 车 客户 晶 体 ， 执行以下标 准 客 户 编 码是ONIT（TRW）和 DTA11A， 执行以下标 准 。 客 户 编 码是DLC01 和DLC01A，执行以下标 准 客 户 编 码是ONIT（TRW）和 DTA11A，执行以下标 准 。 2 全表 4,7,8,15 3,4,7 3,9,10,15,20 3 全表 无 无 101,110 4 无 全表 无 无 5 无 无 全表 无 6 无 无 全表 无 7 无 无 无 全表 可 靠 性 试 验 作 业指导书 文 件 编 号 : QW G-123 版 本 号 : O 修 订 人 :邓 志 敏 批 核 人 ： 第 2 页 共 10 页 生 效 日 期 : 29/05/2008 复 核 人 : 8 无 无 无 全 表 2.1 必 要 测 试 (AEC-Q200-REV C 测 试 和 HKA 测 试 ) 进 行 表 2 中 的 AEC-Q200-REV C 测 试 加 上 表 3 中 的 HKA 测 试 ， 并 且进 行 表 2 中 (测 试 NO.14)和 表 3 中 (测 试 NO.110)的 振 动 测 试 。 2.1.1 AEC-Q200-REV C 测 试 表 2 NO 测 试 题 目 条 件 参 考 每 lot 样品 数 lot 可 接 受 失 败 数 85℃部 分 （ 仪 表 上 ） 125℃部 分 （ 舱 内 ） 1 受 压 前 后电 参 数 测试 除 了 可 应 用 的 压 力 参 考 和 表3 中 的 附 加 说 明之 外 ， 均 执 行 用 户 规 格 所 有 符合 条 件的 零 件 1 0 3 高 温 曝 露（ 储 藏 ） 测 试 1000 小 时 、85℃、无 动 力 ， 测 试 结束后24± 2 小 时 内 ...