教你如何调整DDR 内存参数 日期:2006-07-08 上传者:赵磊 来源:OCER
net 同样的CPU,同样的频率设置,为什么别人的运行效率就比我的高呢
为什么高手能以较低CPU 频率跑出更好的测试成绩呢
问题的关键就是内存参数的调校
在一般的超频中,只会调整一些基本参数,比如某超频报告中会说到内存运行状态为 “520MHz、3-4-4-8 1T”,那么除频率外后 5 个数字就是基本参数
还有一系列参数被称之为“小参”,能起到辅助调节作用,当调节基参后仍无法提高频率,或者性能提升不明显后,调整“小参”往往会得到令人意外的惊喜
以下我们根据基本参数与小参分别介绍调校方法
基本参数介绍 目前的内存还是使用类电容原理来存储数据,需要有充放电的过程,这个过程所带来的延迟是不可避免的
在BIOS 中,所有关于内存调节的参数其实都是在调整这个充放电的时序
受颗粒品质影响,每种内存的参数几乎都不完全一样
面对这些参数,我们必须先了解其原理才能在以后的调节中做到信手拈来
以下我们讲解一些重点参数的含义
CL CL 全称 CAS Latency ,是数据从存储设备中输出内存颗粒的接口之间所使用的时间
一般而言是越短越好,但受于制造技术和内存控制器所限,目前的最佳值是2
从图中,我们能够直观的看到CL 值变化,对数据处理的影响
虽说在单周期内的等待的时间并不长;但在实际使用时,内存每秒要400M 次以上的周期循环,此时的性能影响就相当明显了
RAS 与CAS 内存内部的存储单元是按照行(RAS)和列(CAS)排成矩阵模式,一个地址访问指令会被解码成行和列两个信号,先是行地址信号,然后是列地址信号,只有行和列地址都准备好之后才可以确定要访问的内存单元
因此内存读写第一个延迟是RAS 到CAS 的延迟,从行地址访问允许到读、写数据还有一个准备时间,被称为 RAS 转换准备时间