参考 电子产品可靠性试验国家标准清单 GB/T 15120
1-1994 识别卡 记录技术 第1 部分: 凸印 GB/T 14598
2-1993 电气继电器 有或无电气继电器 GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法 GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则 GB/T 5839-1986 电子管和半导体器件额定值制 GB/T 7347-1987 汉语标准频谱 GB/T 7348-1987 耳语标准频谱 GB/T 9259-1988 发射光谱分析名词术语 GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则 GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法 GB/T 2689
1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则 GB/T 2689
2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689
3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689
4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 5080
1-1986 设备可靠性试验 总要求 GB/T 5080
2-1986 设备可靠性试验 试验周期设计导则 GB/T 5080
4-1985 设备可靠性试验 可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)
参考 GB/T 5080
5-1985 设备可靠性试验 成功率的验证试验方案 GB/T 5080
6-1985 设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验 GB/T 5080
7-1986 设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案 GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性有效性和维修性数据收集指南 GB/T 6990-1986 电子设备