7 檢 驗 檢 驗 之 目 的 ‧ 對 下 一 工 程 ﹙或 顧 客﹚ 保 證 品 質 ‧ 區 別 好 壞 ﹙合 格 、 不 合 格﹚ ‧ 品 質 分 級 ‧ 製 程 是 否 改 變 ‧ 衡 量 製 程 能 力 檢 驗 之 種 類1. 100% 全 檢2. 免 檢3. 抽 樣 檢 驗 抽 樣 檢 驗 適 用 情 況1. 允 許 有 少 量 不 合 格 品2. 破 壞 性 檢 驗3. 檢 驗 費 用 高 或 檢 驗 時 間 長4. 受 驗 物 品 個 數 很 多5. 100% 檢 驗 不 可 行 時﹙ 例： 因 全 檢 而 影 響 到 交 期﹚6. 當 全 檢 之 成 本 遠 高 於 不 合 格 品 所 造 成 之 成 本 時7. 受 檢 物 品 之 群 體 面 積 很 大 ， 不 適 合 採 全 檢 時8. 受 檢 群 體 為 連 續 性 物 體 ， 如 紙 張 、 電 線 抽 樣 計 劃 之 種 類Variables sampling plans樣本大小n允收數c批量NAttributes sampling plansSingle samplingDouble samplingMultiple samplingSequential sampling 檢 驗 批 之 構 成‧ 各 批 要 均 勻‧ 較 大 批 量 優 於 小 批 量‧ 抽 樣 之 便 利 性 與 物 料 搬 運 系 統﹙買 賣 雙 方 配 合﹚ 計 數 值 單 次 抽 樣 計 劃Single-sampling planExample: N = 10,000, n = 89, c = 2 當 不 合 格 品 數 ≦ 2 允收 ＞ 2 拒收 操 作 特 性 曲 線 (OC curve) Specific points on the OC curve 1d1c允收 拒 收 收2d允收拒收2c2c 當 不 合 格 率 = Palignl¿1¿¿¿ 時 ， Pa = 1 - α, α = producer's risk Palignl¿1¿¿¿ 稱 為 Acceptable quality level (AQL) 當 不 合 格 率 =P2 時 ， Pa = β, β = consumer's risk P2 稱 為 Lot tolerance percent defective (LTPD) Rejectable quality level (RQL) Limiting quality level (LQL) 當 不 合 格 率 =P3 時 ， Pa = 0.5, P3 稱 為 Indifference quality level (IQL) 雙 次 抽 樣 計 劃Double-sampling planExample：n1=50，calignl¿1¿¿¿=1，n2=100，c2=3MIL-STD-105E‧以 AQL 為基礎的抽樣計劃AQL 是指買方可接受之品質水準‧ 提供三種型式：單次、雙次和多次抽樣‧ 每一種抽樣計劃分為 正常檢驗 (normal inspection) 加嚴檢驗 (tightened inspection) 減量檢驗 (reduced inspection)MIL-STD-105E ‧樣本大小 MIL-STD-105E 之樣本大小代字批量大小 特别檢驗水準 一般檢驗水準 S-1 S-2 S-3 S-4 Ⅰ Ⅱ Ⅲ2-89-1516-2526-5051-9091-150151-280281-500501-12001201-32003201-1000010001-3500035001-150000150001-500000500001 以上 A A A A A A A A A A B B A B B C B B C C B B C D B C D E B C D E C C E F C D E G C D F G C D F H D E G J D E G J D E H K A A B A B C B C D C D E C E F D F G E G H F H J G J K H K L J L M K M N L N P M P Q N Q R
