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基于单片机的温度检测和光照强度指示系统设计样本

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基于单片机的温度检测和光照强度指示系统设计学生姓名: 姜高阳 学号: 5043006物理电子工程学院 电子科学与技术专业指导老师: 余大庆 职称: 讲师摘 要: 温度和光照强度的检测被广泛应用仓储、 工业生产及日常生活中。对于温度的检测能够使用 DS18B20 进行, 使用光敏电阻再辅以电压比较电路能够实现对于光照强度的指示功能。对于温度检测, 由 DS18B20 温度传感器芯片测量当前的温度并将结果送入单片机, 然后经过单片机对送来的温度进行计算和转换, 并将此结果送入四位八段码数码管, 由四位八段码数码管将温度显示出来。而对于光照强度检测, 光敏电阻阻值由于光照强度影响而变化从而产生电压改变, 经过电压比较电路 LM339 将这一变化的电压与基准电压相比较产生输出电压变化, 将这一变化的电压信号传送至单片机中进而实现光照强度的检测。关键词: 温度检测; 光照强度指示; DS18B20 温度传感器; 单片机Abstract: Temperature and light intensity detection is widely application storage, industrial production and daily life. For temperature detection can use DS18B20, using photoconductive resistance again complementary with voltage circuit can realize compared to light intensity instruction function. For temperature testing by DS18B20, measuring current temperature and chip microcontroller, then the results into through the monolithic integrated circuit to the temperature calculation and brought the transformation and the results into four paragraphs yards by four paragraphs digital tube, digital tube will temperature display code out. For light intensity detection, photoconductive resistance value because of light intensity and changes resulting voltage change, through the voltage LM339 will compare circuit voltage and the change in the benchmark voltage compared to produce output voltage change, will this change in voltage signals to SCM realize light intensity detection. Keywords: temperature testing; Light intensity instructions; The temperature sensor DS18B20; micr...

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