试验一 光电感测传感器性能试验一、试验目的了解光敏晶体管、光遮断器的特性二、试验仪器设备1、KL-62025 试验器
2、模板 KL-64001,KL-64002,KL-64003
3、连接线 2mm-0
4、附件:小磁铁三、试验电路原理说明〔一〕、 光电晶体光控电路本电路由光电晶体所构成的光控开关电路
当光电晶体不受光时,C、E 两端为截止状态,因此输出端为高电位
当受光时,受光强度的大小,输出电压随之做大小变化
〔二〕、光遮断器当光遮断器的检测口没有物体通过时,发光二极管加一偏压,产生一光源,此一光源, 照耀光电晶体,集电极电流变大,使集电极电位〔 Vo〕下降
一旦光束被检测物阻断时, 光电晶体的集电极电路下降,集电极电压〔Vo〕上升
利用集电极电压的凹凸变化,并将输出波形加以调整,即可侦测物体的有无
四、试验步骤与记录〔一〕、光电晶体1、依图所示,取出 KL-64001 模板的 PHOTO TRANSISTOR 区域
2、输出 Vo1 端接 KL-62025 STATUS DISPLAY & DCV INPUT 正端,接地接 INPUT 负端
3、KL-62025 接线图4、将 KL-62025 主机的电源翻开,此时显示器应亮
5、将 KL-62025 STATUS DISPLAY & DCV MODE 选在 DCV,RANGE 定在 20V
6、当光电晶体不受光时〔用手将光电晶体的受光面遮住〕,量测 Vo1 端的电压值,记录
7、当光电晶体受光时〔以日光灯直射时〕,量测 Vo1 端的电压值,记录
8、光源翻开,移动光电晶体与光源的距离,记录
距离0cm5cm10cm15cm20cm30cm40cm50cm Vo1〔二〕、光遮断器1、依图所示,找出 KL-64001 模板的 PHOTO INTERRUPTOR 区域
Vo2 端接至 KL-62025 STAT