手机工作流程VIP免费

第1页共18页编号：时间：2021年x月x日书山有路勤为径，学海无涯苦作舟页码：第1页共18页目录一、手机工作流程示意图(Infineon平台、Broadcom平台、MTK平台)二、射频部分讲解三、逻辑部分讲解四、电源部分讲解五、电性能部分讲解第2页共18页第1页共18页编号：时间：2021年x月x日书山有路勤为径，学海无涯苦作舟页码：第2页共18页手机工作流程示意图GSMDCSI、Q信号天线信号射频测试点射频转换开关高频虑波器高频虑波器中频IC13MHZ振荡器接收本振发射本振功率放大ICBGA程序存储器FLASHIC32KHZ信号电源管理器和弦铃声IC中频虑波器SIM卡座第3页共18页第2页共18页编号：时间：2021年x月x日书山有路勤为径，学海无涯苦作舟页码：第3页共18页一、射频部分讲解1、接收电路由天线接收到的高频信号送到PR接口，再送往射频转换开关，此时具有GSM和DCS两种工作状态：频段切换的控制信号VC1、VC210处于GSM发射状态00处于GSM、DCS接收状态01处于DCS发射状态2.8V再经射频转换开关虑波后的一路900MHZ的接收信号经高频虑波器虑波送到中频IC，另一路1800MHZ的接收信号经高频虑波器虑波送到中频IC；中频IC对虑波后接收信号在内部进行低噪声放大，然后和接收本振送来的接收信号进行混频，产生360MHZ的中频信号送到中频虑波器进行虑波，虑波后的中频信号送往中频IC再进行二次混频，最终产生四路接收I/O信号送往BGA；在BGA内部进行A/D转换以及信号外理，然后再经过在D/A转换面语音信号送往LCD、听简等。2、发射电路射频测试点高频虑波器高频虑波器收发信号处理器（中频IC）接收本振BGASP射频转换开关射频测试点射频测试点耦合器功率放大IC功率控制器发射本振中频ICBGAMIC第4页共18页第3页共18页编号：时间：2021年x月x日书山有路勤为径，学海无涯苦作舟页码：第4页共18页语音信号从MIC输入，BGA将语音信号转换成电流信号，在BGA内部进行A/D转换和数字信号处理，然后再D/A转换调制成发射信号的I/O信号，送到中频IC进行调制；由中频IC内部进行变频产生424MHZ的发射信号，再和发射本振进行混频、虑波产生发射信号，然后发射本振振荡产生所需的GSM、DCS的发射频率信号送到功率放大IC；当手机收到基站发出的功率级别要求，在BGA控制下从功率表中调出相应的功率级别数据，经过D/A转换成标准功率控制电平与实际发射的功率值比较，产生误差电压去调节激励放大电路、功放增益，将放大后的信号送到射频转换开关进行GSM900和DCS1800的频段切换，最终送往天线进行发射。3、线路流程接收通路：天线信号射频测试点射频转换开关高频虑波器（一路GSM900信号；一路DCS1800信号）中频IC接收本振中频虑波器BGA发射通路：MIC受话BGA中频IC发射本振功率放大IC射频转换开关射频测试点天线信号4、维修实例Infineon平台：Broadcom平台：不入软件位ABORT：A、电流为0的情况：1、32KHZ是否正常工作；2、U4外围电阻R8、R15、C73、C74的阻值是否正常；3、开机键U4＃43脚BGAB、电流过小的情况：1、13MHZ是否正常工作；2、13MHZU17BGA3、U4外围电阻R40、R39的阻值是否正常；4、U19的虚焊、不良问题引起的；C、电流正常，但不入软件：1、U1、U21、U4不良问题引起的；2、U21外围电阻R40、R39的阻值是否正常；3、尾插J4U1之间的物理通路是否导通；3、U19、FL4、FL5的虚焊、不良问题引起的；D、电流过大的情况：1、U1、U21、U4、U14不良问题引起的；2、U16、U18的短接、不良问题引起的；第5页共18页第4页共18页编号：时间：2021年x月x日书山有路勤为径，学海无涯苦作舟页码：第5页共18页3、U19的短接、不良问题引起的；4、U4Q3；5、U17Q1；6、U1外围电阻的短接问题引起的；E、failed的情况：1、尾插U1的物理通路是否导通；2、U21U1的物理通路是否导通；3、13MHZ不良问题引起的；F、能入软件，但不开机的情况：1、U4U21的供电线路是否导通；(串口线路：尾插U1，尾插的7、8脚对地阻值大约在1.4MHZ左右为正常，)校准位：A、ABORT1、U21不良问题引起的；（能入软件，但校准不过）2、U4不良问题引起的；（测试机柜的电流过小的情况）3、U1不良问题引起的；（测试机柜的电流正常的情况）4、U45、U41、U6不良问题引起的；（测试机柜的电流过大的情况...