第1页共14页编号:时间:2021年x月x日书山有路勤为径,学海无涯苦作舟页码:第1页共14页湿式蚀刻工艺提高LED光萃取效率之产能与良率主题:技术1、前言近几年来III族氮化物(III-Nitride)高亮度发光二极体(HighBrightnessLightEmissionDiode;HB-LED)深获广大重视,目前广泛应用于交通号誌、LCD背光源及各种照明使用上
基本上,GaNLED是以磊晶(Epitaxial)方式生长在蓝宝石基板(SapphireSubstrate)上,由于磊晶GaN与底部蓝宝石基板的晶格常数(LatticeConstant)及热膨胀係数(CoefficientofThermoExpansion;CTE)相差极大,所以会产生高密度线差排(ThreadDislocation)达108~1010/cm2,此种高密度线差排则会限制了GaNLED的发光效率
此外,在HB-LED结构中,除了主动层(ActiveRegion)及其他层会吸收光之外,另外必须注意的就是半导体的高折射係数(HighRefractiveIndex),这将使得LED所产生的光受到侷限(TrappedLight)
以图1来进行说明,从主动区所发射的光线在到达半导体与周围空气之界面时,如果光的入射角大于逃逸角锥(EscapeCone)之临界角(CriticalAngle;αc)时,则会产生全内反射(TotalInternalReflection);对于高折射係数之半导体而言,其临界角都非常小,当折射係数为3
3时,其全内反射角则只有17o,所以大部份从主动区所发射的光线,将被侷限(Trapped)于半导体内部,这种被侷限的光有可能会被较厚的基板所吸收
此外,由于基板之电子与电洞对,会因基板品质不良或效率较低,导致有较大机率产生非辐射復回(RecombineNon-Radiatively),进