利用透射电镜表征纳米材料摘要:本文简要叙述透射电子显微学,主要介绍透射电子显微镜的基本原理及应用,通过微观结构结解释其宏观物理性能,发展新应用以及纳米材料的力学性能的研究,从而利用透射电镜表征纳米材料
关键字:透射电镜;表征;纳米材料一、概述透射电子显微镜(英语:Transmissionelectronmicroscope,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射
散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件)上显示出来
由于电子的德布罗意波长非常短,透射电子显微镜的分辨率比光学显微镜高的很多,可以达到0
2nm,放大倍数为几万~百万倍
因此,使用透射电子显微镜可以用于观察样品的精细结构,甚至可以用于观察仅仅一列原子的结构,比光学显微镜所能够观察到的最小的结构小数万倍
TEM在中和物理学和生物学相关的许多科学领域都是重要的分析方法,如癌症研究、病毒学、材料科学、以及纳米技术、半导体研究等等
在放大倍数较低的时候,TEM成像的对比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成对电子的吸收不同而造成的
而当放大率倍数较高的时候,复杂的波动作用会造成成像的亮度的不同,因此需要专业知识来对所得到的像进行分析
通过使用TEM不同的模式,可以通过物质的化学特性、晶体方向、电子结构、样品造成的电子相移以及通常的对电子吸收对样品成像
二、透射电镜的组成及原理它由电子光学系统(镜筒)、电源和控制系统、真空系统三部分组成
显微镜原理对比图(a)透射电子显微镜b)透射光学显微镜)电子枪发射的电子在阳极加速电压的作用下,高速地穿过阳极孔,被聚光镜会聚成很细的电子束照明样品
因为电子束穿透能力有限,所以要求样品做得很薄,观察区域的厚度