AgilentLCR表、阻抗分析仪和测试夹具选型指南材料、半导体和元器件测试及在线测量解决方案适应您各种应用的经济高效的测试解决方案无论您的工作是属于研究开发、生产制造、质量保证，还是来料检验，安捷伦科技都可以为您提供最适当的阻抗测量解决方案。安捷伦拥有全套的阻抗测试设备和测试附件，可帮助您高效地完成测试任务。安捷伦能够提供:卓越的产品性能:安捷伦产品可提供同类产品中最出色的精度和可重复性，以及极快的测量速度。表1中列出的三种阻抗测量解决方案可满足不同的测量需求。全面的解决方案:安捷伦的阻抗分析仪产品系列可测量的频率范围从5Hz到3GHz，使您能在最广阔的范围内根据测量需求做出最好的选择。本选型指南概括性地向您介绍可以选择的所有产品和附件。专业的技术支持:安捷伦在提供阻抗测量解决方案方面拥有几十年的经验。常年的经验和持续的技术创新已经融合到每种LCR表和阻抗分析仪的设计和生产制造过程当中。安捷伦还有大量相关的技术资料，帮助您更加正确高效地完成各种测量任务(这些资料的清单在第15页列出)。应用范围广泛的先进测量技术图1是AgilentLCR表和阻抗分析仪所使用的不同测试技术的比较，正如您所看到的那样，每一种技术都有其特别的测量优势:●自动平衡桥法的阻抗测量范围最宽，典型的测量频率在20Hz到110MHz之间，这项技术比较适用于低频和通用的测试。图1.阻抗分析仪/LCR表的阻抗测量技术安捷伦阻抗分析仪/LCR表测量技术比较10%精度范围阻抗测量范围(Ω)自动平衡桥法I-V法测量频率范围(Hz)射频I-V法表1.阻抗测量产品类型产品类型产品要点LCR表阻抗分析仪网络分析仪扫频测量能力点/列表连续扫频(开始/停止,中心/扫宽)连续扫频(开始/停止,中心/扫宽)显示屏只有数字显示方式图形图形其他机械手接口,比较器内置等效电路分析功能、材料测量、在线测量内置等效电路分析功能,在一台仪表中实现多种测试功能优势低成本解决方案,容易使用,测试速度快最宽的测量范围,谐振分析,电路建模经济高效,多功能,仪表体积小2●I-V法适用的频率范围从40Hz到110MHz，能够测量的阻抗范围要小一些，另外也适用于用探头进行测量的在线测试。●RFI-V法是I-V法的扩展，在I-V法所适用的阻抗测试范围内，又增加了网络分析在高频测量时所具有的一些优点。RFI-V法是专为精确地分析和测量射频器件的高频特性而设计的，在测量小电感和小电容方面体现出优越的性能。●此外，安捷伦的网络分析仪提供了阻抗测量解决方案，综合运用三种测量方法(反射、串联直通和并联直通)进行S参数和增益相位测量。如何使用这个选型指南表2是Agilent所有阻抗测试产品的一个概括，这个表格可以帮助您对安捷伦的各种仪表进行更好的比较，并使您能够根据下面列出的几方面的需要选出最能满足应用要求的解决方案:●测试频率范围●器件的类型或应用的类型●精度要求(测量技术)●任何其他特殊需求如果您觉得针对某一应用要求存在着几种可能的选择，那么可以翻到相应的页码去阅读关于每种产品更加详细的信息。表2.安捷伦阻抗测量产品一览产品类型频率范围应用特性产品型号频率范围(Hz)基本阻抗精度1(%)测量结果显示范围(Ω)特性4采用的测量方法主要应用阻抗分析仪RF高性能/材料/高温度E4991A1M至3G0.8130m至20k3A,BRF-IVLCR元件、材料测试和半导体测试多功能E5061B选件3L5/0055至3G21至2k/5至20k/1m至53A,B反射/串联/并联LCR元件、PDNLF/HF高性能/材料/C-V4294A40至110M0.0825m至40M3A,BABBLCR元件、材料测试和半导体测试在线(接地)、C-V包含42941的4294A40至110M150m至4M3A,BIV在线测试、半导体测试LCR表RF高性能/高速测量E4982A1M至3G0.8140m至4.8k3CRFI-VLCR元件HF高性能/材料/C-V4285A75k至30M0.10.01m至100MDABBLCR元件、材料测试和半导体测试LF高性能/材料/C-VE4980A20至2M0.051.000000a至999.9999EDABBLCR元件、材料测试和半导体测试低成本/变压器4263B100至100k0.10.01m至100MDABBLCR元件、变压器专用仪表LF电容器/高速测量E4981A只有120、1k和1M0.071.000000aF至99.99999EF2DABBMLCC1.基本阻抗精度是仪表工作在最佳状态下的值,会随测量条件的改变而改变，详细信息需要阅读具体产品的技术资料。2....
