单片机实验实验指导书2017年2月单片机实验报告（自动化XX级）实验名称学生姓名联系方式学号院系工学院电气与信息工程系专业自动化指导教师填写日期实验一数据传送一、实验目的1．进一步熟悉仿真器的使用方法。2．练习设计简单的程序。3．掌握8051片内RAM和片外RAM的数据传送方法,从而了解这两部分存贮器的特点。二、实验内容将8051内部RAM40H~4FH置初值00H~0FH,然后将40H~4FH内容传送到外部RAM的4800H~480FH，再将4800H~480FH传回内部RAM的50H~5FH。设置断点B1、B2、B3每运行到断点时检查相应的CPU现场和存贮单元的内容。三、实验准备1、认真阅读本实验指导。2、读懂下面的程序：#include
#includechardata*p40,*p50;charxdata*p4800;chari,j,k;voidmain(){p40=0x40;p50=0x50;p4800=0x4800;for(i=0;i<16;i++){*p40=i;p40=p40+1;}//B1p40=0x40;for(j=0;j<16;j++){*p4800=*p40;p40=p40+1;p4800=p4800+1;}//B2p4800=0x4800;for(k=0;k<16;k++){*p50=*p4800;p50=p50+1;p4800=p4800+1;}}//B33、画出如下要测的数据表格：断点40H~4FH4800H~480FH50H~5FHP40P50P4800B1B2B3四、实验步骤1、向机器输入程序。2、运行程序至第一个断点B1，检查40H~0FH单元内容及指针p40的内容。3、运行程序至第二个断点B2，检查4800H~480FH单元内容及指针p40,p4800的内容。4、运行程序至第三个断点B3，检查50H~5FH单元内容及累加器及指针p50的内容。五、实验报告要求1、写出C语言源程序和对应的汇编语言指令及注解的程序清单。2、将测得的数据填入表格，并和理论分析的结果相比较。3、说明8031CPU对内部存贮器和外部扩展RAM存贮器各有哪些寻址方式？4、如果要读外部程序存储器0x4800中的内容，该如何访问？5．实验心得。（必须）实验一并行口一、实验目的通过实验了解8051并行口输入方式和输出方式的工作原理及编程方法。二、实验内容1、输出实验如图4-1所示。以8031的P2口为输出口。通过程序控制发光二极管的亮灭。2、输入实验如图4-1所示。以8031的P1口为输入口。用开关向P1.0~P1.3输入不同的状态，控制P2口P2.4~P2.7发光二极管的亮灭。3、查询输入输出实验如图1-1所示。以8051的P1.6或P1.0为输入位，以P2口为输出，二进制计数记录按键的次数。图1-1三、编程提示1、输出实验程序（1）设计一组显示花样，编程使得P2口按照设计的花样重复显示。（2）为了便于观察，每一状态加入延时程序。2、输入实验程序开关打开，则输入为1；开关闭合，则输入为0。读取P1.0~P1.3的状态，并将它们输出到P2.4~P2.7，驱动发光二极管。所以发光二极管L1~L4的亮灭应与开关P1.0~P1.3的设置相吻合。3、查询输入输出程序（1）编程计数P1.0按键次数，按键不去抖动。（2）编程计数P1.6按键次数，按键不去抖动。（3）编程计数P1.0按键次数，按键软件延时去抖动。观察（1）、（2）、（3）、的结果。四、实验器材计算机，目标系统实验板五、实验步骤1、在KEILC中按要求编好程序，编译，软件调试，生成.HEX文件。2、断开电源，按图1-1所示，连好开关及发光二极管电路。3、下载程序。4、调试运行程序，观察发光二极管状态。六、实验报告要求1、列出各实验的程序清单。2、记录实验现象，并与理论分析结果相比较。3．实验心得。（必须）4．附能说明实验原理的实验照片。（必须）实验三外部中断一、实验目的1、掌握单片机外部中断的原理及过程。2、掌握单片机外部中断程序的设计方法。3、掌握单片机外部中断时中断方式的选择方法。二、实验内容如下图所示，P3.2设为输入，P2设为输出位，连有8个发光二极管D1~D8。每当发生外部中断时,发光二极管以向下流水灯的方式点亮。分别选择边沿触发外部中断放是和电平触发外部中断方式两种。三、编程提示1、P3口是8位准双向口，具有双重功能：第一功能和P1口一样，作为输入输出口，也有字节操作和位操作两种方式，每一位可分别定义为输入或输出；第二功能定义如下：P3.0RXD串行输入口P3.1TXD串行输出口P3.2INT0外部中断0请求输入线P3.3INT1外部中断1请求输入线P3.4T0定时器/计数器T0外部计数器脉冲输入线P3.5T1定时器/计数器T1外部计数器脉冲输入线P3.6WR外部数据存贮器写脉冲输出线P3.7R...
