X射线与俄歇光电子能谱应用的文献综述摘要:针对X射线与俄歇光电子能谱的应用范围较广泛,通过对各种物质的分析,重点介绍了X射线在化学分析中的应用及俄歇电子能谱仪在材料分析(失效分析、表面分析、微区分析)等方面的应用
关键词:x射线光电子能谱仪样品前处理装置俄歇电子能谱仪样品制备材料分析失效分析表面分析微区分析一、X射线的应用X射线的特征是波长非常短,频率很高,其波长约为(20~0
06)×10-8厘米之间
因此X射线必定是由于原子在能量相差悬殊的两个能级之间的跃迁而产生的
所以X射线光谱是原子中最靠内层的电子跃迁时发出来的,而光学光谱则是外层的电子跃迁时发射出来的
X射线在电场磁场中不偏转
这说明X射线是不带电的粒子流,因此能产生干涉、衍射现象
X射线光电子能谱(XPS)是利用波长在x射线范围的高能光子照射被测样品,测量由此引起的光电子能量分布的一种谱学分析方法,是瑞典Uppsala大学K.Siegbahn及其同事经过近20年的潜心研究而建立的
随着微电子技术的发展,XPS也在不断地完善
目前,已开发出的小面积X射线光电子能谱,大大提高了XPS的空间分辨能力
通过对样品进行全扫描,在一次测定中即可检测出全部或大部分元素
因而,X射线光电子能谱已发展成为具有表面元素分析、化学态和能带结构分析以及微区化学态成像分析等功能强大的表面分析仪器
X射线光电子能谱仪的基本组成有真空室、X射线源(A1/Mg双阳极x射线源)、电子能量分析器
X射线光电子能谱的理论依据就是爱因斯坦(Einstein)的光电子发射公式
根据Einstein的能量关系式有:^v=Eb+Ek
式中,入射光子能量h是已知的,借助光电子能谱仪可以测出光电过程中被入射光子所激发出的光电子能量Ek,从而可求出内层电子的轨道结合能Eh
由于各种原子都有一定结构,所以知道Eb值后,即能够对样品进行元素分析鉴定
XPS作为研究材