范围本标准准适用于正星光电科技有限公司生产的ITO产品
规范性引用文件JISB0601—1994表面微观波纹度测量过程和方法的标准
GB2828—2003计数抽样检验程序[第一部分按照接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划]
玻璃基片的规格长度及宽度的允许偏差、厚度允许偏差表序号检验项目标准范围测量方法1长度/宽度土数显游标卡尺2厚度土土0
55mm土土千分尺3垂直度W%宽座角尺和塞尺垂直度玻璃基片的垂直度的公差等级a/LW%(见图1,a为公差带,L为被测玻璃基片的相应边长)
图1玻璃基片的垂直度弯曲度(h/L)1/111L图2玻璃基片的弯曲度,不允许S形弯曲微观波纹度(玻璃的浮法锡面)微观表面波纹度的数值Rt的最大值应符合表2要求序号厚度玻璃类型弯曲度微观波纹度1非强化W%W20mm强化W%2非强化W%W20mm强化W%3非强化W%W20mm强化W%4033mm非强化W%W20mm强化W%磨边倒角:切角磨边示意图编号项目标准要求检验方法1C型倒边WWW10倍放大镜2R型倒边宽度:WWW曲半径:RW5010倍放大镜图5点状缺陷的尺寸mm3标识角b二土c二土10倍放大镜4相同角A二土10倍放大镜5崩边长Wlmm,宽W深度W1/2基片厚度10倍放大镜6破裂不允许目测7边、角未磨不允许目测表面质量包括内部气泡、夹杂物、表面凹坑、异色点等
点状缺陷的直径d定义为:d=(L+W)/2,见图5
划伤缺陷的定义为:L3mm,W见双面ITO产品表面质量检验标准No缺陷分类A品标准范围B品测量方法1内部气泡、杂质点、针眼、污点、锡斑、亮点、表面凹凸点、颗粒d=(W+L)/2dW不计〈dW最多2个/片d>不允许DW,10个/片,允许;D>,不允许
裸眼上1000LUX(30W日光灯)光照条2玻筋日光灯下不可见图6:3划伤宽度WW,不计;www,单个长度W3mm,1条/片允许;w>,不允许