实用标准文案精彩文档电子产品可靠性试验第一章可靠性试验概述1电子产品可靠性试验的目的可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段
试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据
具体目的有:(1)发现产品的设计、元器件、零部件、原材料和工艺等方面的各种缺陷;(2)为改善产品的完好性、提高任务成功性、减少维修人力费用和保障费用提供信息;(3)确认是否符合可靠性定量要求
为实现上述目的,根据情况可进行实验室试验或现场试验
实验室试验是通过一定方式的模拟试验,试验剖面要尽量符合使用的环境剖面,但不受场地的制约,可在产品研制、开发、生产、使用的各个阶段进行
具有环境应力的典型性、数据测量的准确性、记录的完整性等特点
通过试验可以不断地加深对产品可靠性的认识,并可为改进产品可靠性提供依据和验证
现场试验是产品在使用现场的试验,试验剖面真实但不受控,因而不具有典型性
因此,必须记录分析现场的环境条件、测量、故障、维修等因素的影响,即便如此,要从现场试验中获得及时的可靠性评价信息仍然困难,除非用若干台设备置于现场使用直至用坏,忠实记录故障信息后才有可能确切地评价其可靠性
当系统规模庞大、在实验室难以进行试验时,则样机及小批产品的现场可靠性试验有重要意义
2可靠性试验的分类2
1电子装备寿命期的失效分布目前我们认为电子装备寿命期的典型失效分布符合“浴盆曲线”,可以划分为三段:早期失效段、恒定(随机或偶然)失效段、耗损失效段
早期失效段,也称早期故障阶段
早期失效出现在产品寿命的较早时期,产品装配完成即进入早期失效期,其特点是故障率较高,且随工作时间的增加迅速下降
早期故障主要是由于制造工艺缺陷和设计缺陷暴露产生,例如原材料缺陷引起绝缘不良,焊接缺陷引起虚焊,装配和调整不当引起参数漂移,元器件缺陷引起性能失效等
早期失效可通过加强原材料