霍尔效应及其应用实验报告【摘要】本实验通过了解霍尔原理及霍尔元器件的使用测绘V-1和V-1的图像并HSHM测量霍尔系数、电导率
试验在测量过程中,由于各种副效应会引起各种误差
在此做以分析和修正,采用V对称测量法以消除副效应
经过修正后的实验,更H大程度地降低了实验误差,使K的测量更加接近真实值
【关键词】霍尔片载流子密度霍尔系数霍尔电压mathematica【引言】霍尔效应是霍尔于1879年发现的,这一效应在科学实验和工程技术中有着广泛的应用
霍尔系数的准确测量在应用中有着十分重要的意义
由于霍尔系数在测量过程中伴随着各种副效应,使得霍尔系数在测量过程中变得比较困难
因此我们在测量过程中采取了“对称测量法”消除副效应
【正文】一、实验原理1霍尔效应:霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转
当带电粒子被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷的聚积,从而形成附加的横向电场,即霍尔电场
图(1、a)所示的N型半导体试样,若在X方向的电极D、E上通以电流Is,在Z方向加磁场B,试样中载流子将受洛仑兹力:F=evB①g其中e为载流子电量,为载流子在电流方向上的平均定向漂移速率,B为磁感应强度
无论载流子是正电荷还是负电荷,Fg的方向均沿丫方向,在此力的作用下,载流子发生便移,则在丫方向即试样A、A'电极两侧就开始聚积异号电荷而在试样A、A'两侧产生一个电位差VH,形成相应的附加电场E—霍尔电场,相应的电压VH称为霍尔电压,电极A、A'称为霍尔电极
eVBeVB2
由RH的符号(或霍尔电压的正、负)判断试样的导电类型
判断的方法是按图(1)所示的Is和B的方向,若测得的W