AEC - Q101 - Rev – D1 September 6, 2013 汽車電子委員會組件技術委員會Page 1 of 21基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理AEC - Q101 - Rev – D1 September 6, 2013 汽車電子委員會組件技術委員會Page 2 of 21内容列表AEC-Q101 基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理附录 1: 认证家族的定义附录 2: Q101 设计、构架及认证的证明附录 3: 认证计划附录 4: 数据表示格式附录 5: 最小参数测试要求附录 6: 邦线测试的塑封开启附录 7: AEC-Q101 与健壮性验证关系指南附件AEC-Q101-001: 人体模式静电放电测试AEC-Q101-002: 人体模式静电放电测试 ( 废止 ) AEC-Q101-003: 邦线切应力测试AEC-Q101-004: 同步性测试方法AEC-Q101-005: 静电放电试验– 带电器件模型AEC-Q101-006: 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述AEC - Q101 - Rev – D1 September 6, 2013 汽車電子委員會組件技術委員會Page 3 of 21感谢任何涉及到复杂的技术文件都来自于各个方面的经验和技能。为此汽车电子委员会由衷承认并感谢以下对该版文件有重大贡献的人：固定会员 : Rick Forster Continental Corporation Mark A. Kelly Delphi Corporation Drew Hoffman Gentex Corporation Steve Sibrel Harman Gary Fisher Johnson Controls Eric Honosowetz Lear Corporation 技术成员 : James Molyneaux Analog Devices Joe Fazio Fairchild Semiconductor Nick Lycoudes Freescale Werner Kanert Infineon Scott Daniels International Rectifier Mike Buzinski Microchip Bob Knoell NXP Semiconductors Zhongning Liang NXP Semiconductors Mark Gabrielle ON Semiconductor Tom Siegel Renesas Technology Tony Walsh Renesas Technology Bassel Atallah STMicroelectronics Arthur Chiang Vishay Ted Krueger [Q101 Team Leader]Vishay 其他支持者 : John Schlais Continental Corporation John Timms Continental Corporation Dennis L. Cerney International Rectifier Rene Rongen NXP Semiconductors Thomas Hough Renesas Technology Thomas Stich Renesas Technology 本文件是专门的纪念：Ted Krueger (1955-2013) Mark Gabrielle (1957-2013) AEC - Q101 - Rev – ...
