光电子器件第一章1、光电探测器输出信号电压或电流与单位入射光功率之比，即单位入射光功率作用下探测器输出信号电压或电流称为响应率 . 光谱响应率（ Rλ ）：光电器件在单色(在波长λ 附近一个很小的波长范围里) 辐射功率作用下产生的信号电压或信号电流。——其中 Rm 为光谱响应率的最大值——光谱电压响应率和光谱电流响应率合并称为光谱响应率Rλ （单位： A/W ）光谱响应率及量子效率仅由器件的响应特性所决定，而与光源无关。2. 器件的光谱响应与光源辐射功率谱密度紧密相关，它们之间的匹配系统α —称为器件与光源的光谱匹配系数，它反映了器件响应的波长范围同光源光谱的吻合程度。在光源固定的情况下,面积 A1 是不变的 ,如果与曲线重合得愈多,面积 A2 愈大 , α 愈大，也就是光谱匹配愈好;反之 ,如果两曲线没有重合之处,α =0,即二者完全失配,则该光电器件对光源辐射没有探测能力。光谱匹配 是选择光电子器件,如像管、光电倍增管、红外成像器件的材料的重要依据。3.光电探测器输出的电流或电压在其平均值上下无规则的、随机的起伏，称为噪声 。噪声是物理过程所固有的，人为不可能消除。它的计算是在足够长时间内求其平方平均或均方根。dPduRsudPdiRsimRRR)(RmRR(λ ) 1.01.24iR1 1 )(P)(P)(R)(R1A2A12AA光电探测器的 噪声来源主要 有热噪声、散粒噪声、温度噪声、放大器噪声、频率噪声、复合噪声等。当输出信号电压等于输出噪声电压均方根值时的探测器的入射辐射功率叫做最小可探测辐射功率，也叫做噪声等效功率NEP 。 Pmin 越小，器件的探测能力越强。对 Pmin 取倒数可作为衡量探测器探测能力的参数，称为 探测率 。研究指出 :探测率与器件的面积和工作带宽成反比。4.光吸收厚度 ：设入射光的强度为I0，入射到样品厚度为x 处的光强度为I，则：α 为线吸收系数，单位为（1/cm）α 大时，光吸收主要发生在材料的表层；α 小时，光入射得深。当厚度d=1/ α 时，称为吸收厚度，有 64%的光被吸收。5.本征吸收 ：价带中的电子吸收了能量足够大的光子后，受到激发，越过禁带，跃入导带，并在价带中留下一个空穴，形成了电子空穴对， 这种跃迁过程所形成的光吸收称为本征吸收。本征吸收 条件 ：光子的能量必须大于或等于禁带的宽度Eg。6. 内光电效应 :材料在吸收光子能量后，出现光生电子－空穴，由此引起电导率变化或电压、电流的现象，称之为内光电效应。光电导效应： 当半导体材料...
