基于过采样技术提高A D C 分辨率的研究与实现 首先,考虑一个传统ADC 的频域传输特性
输入一个正弦信号,然后以频率fs 采样--按照 Ny qu ist 定理,采样频率至少两倍于输入信号
从 FFT 分析结果可以看到,一个单音和一系列频率分布于DC 到 fs /2 间的随机噪声
这就是所谓的量化噪声,主要是由于有限的ADC 分辨率而造成的
单音信号的幅度和所有频率噪声的RMS 幅度之和的比值就是信号噪声比(SNR)
对于一个Nbit ADC,SNR 可由公式:SNR=6
76dB 得到
为了改善SNR 和更为精确地再现输入信号,对于传统ADC 来讲,必须增加位数
如果将采样频率提高一个过采样系数 k,即采样频率为 kfs,再来讨论同样的问题
FFT分析显示噪声基线降低了,SNR 值未变,但噪声能量分散到一个更宽的频率范围
Σ-Δ转换器正是利用了这一原理,具体方法是紧接着 1bit ADC 之后进行数字滤波
大部分噪声被数字滤波器滤掉,这样,RMS 噪声就降低了,从而一个低分辨率ADC,Σ-Δ转换器也可获得宽动态范围
那么,简单的过采样和滤波是如何改善 SNR 的呢
一个1bit ADC 的SNR 为7
78dB(6
76),每 4 倍过采样将使 SNR 增加 6dB,SNR 每增加 6dB 等效于分辨率增加1bit
这样,采用 1bit ADC 进行 64 倍过采样就能获得 4bit 分辨率;而要获得 16bit 分辨率就必须进行 415 倍过采样,这是不切实际的
Σ-Δ转换器采用噪声成形技术消除了这种局限,每 4 倍过采样系数可增加高于6dB 的信噪比
假定环境条件: 10 位 ADC 最小分辨电压 1LSB 为 1mv 假定没有噪声引入的时候, ADC 采样上的电压