利用 TFC 求膜层的 N 与 K 图文教程1．首先利用晶控控制沉积单层膜，厚度约4－7 个 1/4 个中心波长，，这里假设在K9 基底上沉积单层 ZnS 薄膜，晶控显示厚度 390nm；2．然后利用分光光度计测量单层膜的反射率或透射率，测量范围最好宽些，这里测量400－1500nm，利用 list 选项导出所测量数据，并保存为 TXT 格式，这里命名 ZnS.TXT,如图所示：3. 打开 TFC，选择 modify－materials4．继续选择 Add Material,填写材料名称，选择合适的 N 与 K 的拟合公式，这里选择 Cauchy与Sellmeier公 式 ， 如 果 不 合 适 ， 可 试 选 别 的 公 式 ， 点OK结束。5．试填写 A0 与 B1 等各系数，以后熟练可凭经验填写，点击 Fit Data 选项结束此步。/ M+ p& V3 z- f) A6 ． 根 据 实 际 情 况 填 写 各 选 项 ， 点 击SetConstraints结 束 此 步 。$ K* h* x0 s) N- p( f7.填写薄膜厚度与是否优化，点OK离开。8.回到上界面，点击Computer进行计算。9.下面为计算结果图，如果感觉结果可接受点击Accept 选项，如不接受，点击 Reject 选项返 回 重 选 拟 合 公 式 ， 修 改 拟 合 公 式 系 数 或 膜 厚 等 参 数 继 续 计算。10．结果处理：感觉结果可接受点击 Accept 选项，出现下面界面，点击 convert 选项，填写 材 料 名 称 ， 点 击 OK ， 即 可 保 存 所 计 算 的 N 与 K 值 ， 如 下 图 所 示 。 完工。
