1IEC62321-3-1 Ed 1
0 2013-06 测定电子电气产品六种限制物质- 第3-1 部分：采用X -射线荧光光谱法对铅、汞、镉、总铬进行初筛 目录 前言 简介 1
引用标准 3
术语、定义和缩写 4
1 概述 4
2 测试原理 4
3 绪言 5
仪器，设备和材料 5
1 XRF 光谱仪 5
2 材料和工具 6
1 概述 7
2 无损方法 7
3 破坏性方法 8
测试程序 8
1 概述 8
2 光谱仪调试 8
3 试样 8
4 光谱仪性能验证 8
5 测试 8
6 校准 9
精密度 10
1 概述 10
2 铅 10
3 汞 10
4 镉 10
5 铬 10
6 溴 10
7 不同测试材料中的五种待测物质的重复性综述 10
1 概述 10
2 材料：ABS（丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物），颗粒和平板状态 10
3 材料：PE（低密度聚乙烯），颗粒状态 10
4 材料：PC/ABS（聚碳酸酯和 ABS 混合物），颗粒状态 10
5 材料：HIPS（耐高冲击性聚苯乙烯） 210
6 材料：PVC（聚氯乙烯），颗粒状态 10
7 材料：聚烯烃，颗粒状态 10
8 材料：水晶玻璃 10
9 材料：玻璃 10
10 材料：无铅焊料，铸块 10
11 材料：硅铝合金，铸块 10
12 材料：铸造铝合金，铸块 10
13 材料：PCB-印刷电路板，粉碎至小于250μm 10
8 不同测试材料中的五种待测物质的再现性综述 10
1 概述 10
2 材料：ABS（丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物），颗粒和平板状态 10
3 材料：PE（低密度聚乙烯），颗粒状态 10
4 材料：PC/ABS（聚碳酸酯和 ABS 混合物），颗粒状态 10
