Test Action Group ，联合测试行动小组 ) 是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试， JTAG 技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路 TAP （ Test Access Port ，测试访问口），通过专用的JTAG 测试工具对内部节点进行测试。目前大多数比较复杂的器件都支持 JTAG 协议，如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。标准的 JTAG 接口是 4 线： TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。JTAG 测试允许多个器件通过 JTAG 接口串联在一起，形成一个 JTAG 链，能实现对各个器件分别测试。 JTAG 接口还常用于实现 ISP （ In-System Programmable 在系统编程）功能，如对 FLASH 器件进行编程等。通过 JTAG 接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。目前 JTAG 接口的连接有两种标准，即 14 针接口和 20 针接口，其定义分别如下所示。14 针 JTAG接口定义：14 针 JTAG接口定义引 脚 名 称 描 述1 、 13VCC接电源2 、 4 、 6、 8、 10 、 14GND接地3nTRST测试系统复位信号5TDI测试数据串行输入7TMS测试模式选择9TCK测试时钟TDO测试数据串行输出12NC未连接20 针JTAG 接口定义引脚名称描述1VTref目标板参考电压，接电源2 VCC接电源3 nTRST测试系统复位信号4、6、8、10、12、14、16、18、20GND 接地5 TDI测试数据串行输入7 TMS测试模式选择9 TCK测试时钟11 RTCK测试时钟返回信号13 TDO测试数据串行输出15 nRESET目标系统复位信号17 、 19 NC未连接下面以 S3C4510B 开发板为例说明 JTAG 接口：在保证电源电路、晶振电路和复位电路正常工作的前提下，可通过 JTAG 接口调试S3C4510B，在系统上电前，首先应检测JTAG 接口的 TMS 、TCK 、TDI 、TDO 信号是否已与 S3C4510B的对应引脚相连，其次应检测S3C4510B 的 nEWAIT 引脚（ Pin71 ）是否已上拉，ExtMREQ引脚（ Pin108 ）是否已下拉，对这两只引脚的处理应注意，作者遇到多起 S3C4510B 不能正常工作或无法与 JTAG 接口通信，均与没有正确处理这两只引脚有关。给系统上电后，可通过示波器查看 S3C4510B 对应引脚的输出波形，判断是否已正常工作，若 S3C4510B 已正常工作，在使能片内 PLL 电路的情况下，SDCLK/MCLKO 引脚（ Pin77 ）应输出频率为 50MH...
