半导体芯片测试系统操作说明书v1.0 1 第一章 系统概述 1 .1 系统概述 半导体芯片测试系统是使用我公司自主研发的ZWL－900 测试主机、快速光谱分析仪、高精度直流电源、高稳定交流电源、数显功率计等高精度仪器，配合人性化的上位机软件，对 HID、节能灯、LED 模块等灯具测试光、色、电综合性能的产品。 系统实现了真正传统仪器技术和虚拟仪器技术的完美结合，既可直接通过仪表的大屏幕液晶进行一系列测试，又可工作在计算机模式下进行各种测试并进行数据图形分析、存储及报表打印。另外，由于系统中的快速光谱分析模块采用了光纤传输导光、CCD 快速采集、高速数据转换系统、VC++计算机高效人机交换界面等一系列高新技术计量标准，保证了对在 5ms～800ms内光谱功率分布图、半宽度、主波长、色品坐标等所有光谱参数的测量。 系统的模块化和高集成度保证了系统的高可靠性，低温漂保证了系统的重 复 性。同 时 ，系统具有强 大的电源功能，最 大输出 恒 流可达 5A。 便 利 的实验 特 性 清 晰 的大屏幕液晶显示 器 快捷 式的中英 文 操作按 键 采用先 进的四 线 制 测量，使得 测量数据更 加 准确 使用先 进的校 准算法 ，能够 提 供 测量性能强 大的曲 线 分析功能 连 续 性和一致 性的测试功能 使用高精度、高稳定性的电源 灵 活 的系统特 性 RS232 标准接口 配有功能强 大的软件，系统升 级 灵 活 性能扩 展 方 便 开 放 式的测试性能、齐 全 的测试支 架 可满 足 不 同 用户 的各种测试需 求 半导体芯片测试系统操作说明书v1.0 2 1 .2 技术环境 a． 操作系统：Windows XP b． 处理器：为INTEL 兼容处理器，主频1GHz 以上。 c． 系统内存：128M 以上。 d． 光谱分析，至少具备两个可用串口。 e． 可适配打印机，进行报表打印。 f． 半导体芯片测试系统主机及装置。 1 .3 产品特性 快速、稳定 系统使用独立高精度恒流电源模块，拥有先进的快速光谱分析模块。采用等一系列高新技术计量标准，通过信号快速采集、导光、高速分析、高效计算，保证 ms 级的测试速度和可见光波段的光谱参数测试结果的一致性。 适用性广 开放式的测试、齐全的测试夹具，利于各种规格灯具测试。 简便的使用操作 人机交互界面友善，操作简捷，实现全程软件控制。 直观、完善的测试分析系...
