实验二基本门电路逻辑功能的测试

实验二 基本门电路逻辑功能的测试 一、实验目的 1．熟悉能主要门电路的逻辑功； 2．掌握基本门电路逻辑功能的测试方法。 二、使用仪器 DZX-2B 型电子学综合实验装置(简称实验台)。 三、实验原理 1 集成电路芯片介绍 主要的门电路包括与非门、或非门和与或非门。在数字电路中广泛应用。无论大规模集成电路多么复杂，但内部也还是由这些基本门电路构成，因此，熟悉它们的功能十分重要。 图2-1 逻辑图及外引线排列 14 13 12 11 10 9 8 1 2 3 4 5 6 7 74LS04 Vcc GND 14 13 12 11 10 9 8 1 2 3 4 5 6 7 74LS20 NC NC Vcc GND & & 14 13 12 11 10 9 8 1 2 3 4 5 6 7 74LS54 + Vcc GND & & & & 1 2 3 4 5 6 7 14 13 12 11 10 9 8 74LS02 Vcc GND ≥1 ≥1 ≥1 ≥1 数字电路实验中所用到的集成芯片多为双列直插式，其引脚排列规则如图2-1。其识别方法是：正对集成电路型号或看标记（左边的缺口或小圆点标记），从左下角开始按逆时针方向以1，2，3…依次排列到最后一脚。在标准形TTL 集成电路中，电源端Vcc 一般排在左上端，接地端（GND）一般排在右下端，如74LS00。若集成芯片引脚上的功能标号为NC，则表示该引脚为空脚，与内部电路不连接。本实验采用的芯片是74LS00 二输入四与非门、74LS20 四输入二与非门、74LS02 二输入四或非门、74LS04 六非门、74LS54 双二双三输入与或非门，逻辑图及外引线排列图见图2-1（74LS00 见实验一中图1-1(d)）。 2.逻辑表达式: 非门 AY  2-1 2 输入端与非门 BAY• 2-2 4 输入端与非门 DCBAY••• 2-3 或非门 BAY 2-4 对于与非门,其输入中任一个为低电平“0”时，输出便为高电平“1”。只有当所有输入都为高电平“1”时，输出才为低电平“0”。对于TTL 逻辑电路，输入端如果悬空可看做；逻辑1，但为防止干扰信号引入，一般不悬空，可将多余的输入端接高电平或者和一个有用输入端连在一起。对MOS 电路输入端不允许悬空。对于或非门，闲置输入端应接地或低电平,也可以和一个有用输入端连在一起。 四、实验内容及步骤 1．逻辑功能测试 ①与非门逻辑功能的测试： * 将74LS20 插入实验台14P 插座，注意集成块 上的标记，不要 插错 。 * 将集成块 Vcc 端与电源+5V 相 连，GND 与电源“地”相 连。 * 选 择 其中一个与非门，将其4 个输入端A、B、C、D 分 别与四个...