芯片制造流程

深度揭密：图文讲解芯片制造流程 相信很多配件 diyer都非常渴望了解司空见惯的 cpu或者显卡或者内存芯片的制造过程的详细情况，今天我们在这抛砖引玉。 整个制造分 5道程序，分别是芯片设计；晶片制作；硬模准备；包装；测试。而其中最复杂的就是晶片制作这道程序，所以下面主要讲这一点： 1.晶片制作： SiO2经盐酸氯化还原， 形成高纯度多晶硅， 纯度可达 11N， 将有特定晶向的晶种浸入过饱和的纯硅熔汤 (Melt) 中，并同时旋转拉出，硅原子便依照晶种晶向，乖乖地一层层成长上去，而得出所谓的晶棒 (ingot)---这便是常用的拉晶法。 这种硅晶体圆棒将被切成薄片，芯片就在这上面制作出来的了。（注：晶棒的阻值如果太低，代表其中导电杂质 (impurity dopant) 太多，还需经过 FZ法 (floating-zone) 的再结晶 (re-crystallization)，将杂质逐出，提高纯度与阻值。 辅拉出的晶棒，外缘像椰子树干般，外径不甚一致，需予以机械加工修边，然后以 X光绕射法，定出主切面 (primary flat) 的所在，磨出该平面；再以内刃环锯，削下一片片的硅晶圆。最后经过粗磨 (lapping)、化学蚀平 (chemical etching) 与拋光 (polishing) 等程序，得出具表面粗糙度在 0.3微米以下拋光面之晶圆。(至于晶圆厚度，与其外径有关。) 刚才题及的晶向，与硅晶体的原子结构有关。硅晶体结构是所谓「钻石结构」(diamond-structure)，系由两组面心结构 (FCC)，相距 (1/4,1/4,1/4) 晶格常数 (lattice constant；即立方晶格边长) 叠合而成。我们依米勒指针法 (Miller index)，可定义出诸如 ：{100}、{111}、{110} 等晶面。所以晶圆也因之有 {100}、{111}、{110}等之分野。有关常用硅晶圆之切边方向等信息，请参考图 2-2。 现今半导体业所使用之硅晶圆，大多以 {100} 硅晶圆为主。其可依导电杂质之种类，再分为 p型 (周期表 III族) 与 n型 (周期表 V族)。由于硅晶外貌完全相同，晶圆制造厂因此在制作过程中，加工了供辨识的记号：亦即以是否有次要切面 (secondary flat) 来分辨。该次切面与主切面垂直，p型晶圆有之，而 n型则阙如。 {100}硅晶圆循平行或垂直主切面方向而断裂整齐的特性，所以很容易切成矩形碎块，这是早期晶圆切割时，可用刮晶机 (scriber) 的原因 (它并无真正切断芯片，而只在表面刮出裂痕，再加以外力而整齐断开之。)事实上，硅晶的自然断裂面是{111}，所以虽然得到矩形的碎芯片，但断裂面却不与{...