实验一 TTL 集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握 TTL 集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握 TTL 器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门 74LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。其逻辑框图、符号及引脚排列如图 1—1(a)、(b)、(c)图 1—174LS20 逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平(即有“0”得“1”，全“1”得“0”。)其逻辑表达式为 Y=AB…2、TTL 与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流 I 和高电平输出电源电流 ICCLCCH与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。I 是指所有输入CCL端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。I 是指输出端空截，每个门各CCH有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。通常 ICCL>I，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。器件的最大功耗为 P=VI。CCHCCLCCCCL手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。I 和CCLI 测试电路如图 1—2(a)、(b)所示。CCH［注意］：TTL 电路对电源电压要求较严，电源电压 V 只允许在+5V±10%的范 CC围内工作，超过 5.5V 将损坏器件；低于 4.5V 器件的逻辑功能将不正常。图 1—2TTL 与非门静态参数测试电路图(2) 低电平输入电流 I 和高电平输入电流 I。I 是指被测输入端接地，其余iLiHiL输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。在多级门电路中，IiL相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望 I 小些。iLI 是指被测输入端接高电平，其余输入端接地，输出端空载时，流入被测 iH输入端的电流值。在多级门电路中，它相当于前级门输出高电平时，前级门的拉电流负载，其大小关系到前级门的拉电流负载能力，希望 I 小些。由于 I 较小,iHiH难以测量，一般免于测试。I 与 I 的测试电路如图 1—2(c)、(d)所示。iLiH(3) 扇出系数 NO扇出系数 N 是指门电路能驱动同类门的个数，它是衡量门电路负载能力的O一个参数，TTL 与非门有两种不同性质的负载，即灌电流负载和拉电流负载，因此有两种扇...
