XX射线光电子能谱分析(射线光电子能谱分析(XPXPSS))X-rayPhotoelectronX-rayPhotoelectronSpectroscopySpectroscopy汇报人:张亚娜组员:高悦青格乐曲慧慧主要内容主要内容一、XPS的发展二、XPS的基本原理三、光电子能谱仪实验技术四、X射线光电子能谱的应用X射线是由德国物理学家伦琴(WilhelmConradRntgenö,l845-1923)于1895年发现的,他由此获得了1901年首届诺贝尔物理学奖
XPS现象基于爱因斯坦于1905年揭示的光电效应,爱因斯坦由于这方面的工作被授予1921年诺贝尔物理学奖;XPS是由瑞典Uppsala大学的K
Siegbahn及其同事历经近20年的潜心研究于60年代中期研制开发出的一种新型表面分析仪器和方法
Siegbahn教授对发展XPS领域做出的重大贡献,他被授予1981年诺贝尔物理学奖
一、XPS的发展X射线光电子能谱(XPS,全称为X-rayPhotoelectronSpectroscopy)是一种基于光电效应的电子能谱,它是利用X射线光子激发出物质表面原子的内层电子,通过对这些电子进行能量分析而获得的一种能谱
这种能谱最初是被用来进行化学分析,因此它还有一个名称,即化学分析电子能谱(ESCA,全称为ElectronSpectroscopyforChemicalAnalysis)光电效应具有足够能量的入射光子(hν)同样品相互作用时,光子把它的全部能量转移给原子、分子或固体的某一束缚电子,使之电离
处于激发态的离子发射出的光电子--入射光子能量中性原子**AehvAeAAhvX射线起源于轫致辐射,可被认为是光电效应的逆过程,即:电子损失动能产生光子(X射线)快电子原子核慢电子EK1EK2h光子12KKEEh二、X