STM32ADC电压测试实验报告VIP免费

STM32 ADC 电压测试实验报告 一、实验目的 1.了解 STM32 的基本工作原理 2. 通过实践来加深对 ARM 芯片级程序开发的理解 3.利用 STM32 的 ADC1 通道 0 来采样外部电压值值，并在 TFTLCD 模块上显示出来 二、实验原理 STM32 拥有 1~3 个 ADC，这些 ADC 可以独立使用，也可以使用双重模式（提高采样率）。STM32 的 ADC 是 12 位逐次逼近型的模拟数字转换器。它有 18 个通道，可测量16 个外部和 2 个内部信号源。各通道的 A/D 转换可以单次、连续、扫描或间断模式执行。ADC 的结果可以左对齐或右对齐方式存储在 16 位数据寄存器中 接下来，我们介绍一下执行规则通道的单次转换，需要用到的 ADC 寄存器。第一个要介绍的是 ADC 控制寄存器（ADC_CR1 和 ADC_CR2）。ADC_CR1 的各位描述如下： ADC_CR1 的 SCAN 位，该位用于设置扫描模式，由软件设置和清除，如果设置为 1，则使用扫描模式，如果为 0，则关闭扫描模式，ADC_CR1[19:16]用于设置 ADC 的操作模式 我们要使用的是独立模式，所以设置这几位为0 就可以了。 第二个寄存器 ADC_CR2，该寄存器的各位描述如下： ADCON 位用于开关 AD 转换器。而 CONT 位用于设置是否进行连续转换，我们使用单次转换，所以CONT 位必须为0。CAL 和 RSTCAL 用于 AD 校准。ALIGN 用于设置数据对齐，我们使用右对齐，该位设置为0。EXTSEL[2:0]用于选择启动规则转换组转换的外部事件，我们这里使用的是软件触发（SWSTART），所以设置这3 个位为111。 第三个要介绍的是ADC 采样事件寄存器（ADC_SMPR1 和 ADC_SMPR2），这两个寄存器用于设置通道 0~17 的采样时间，每个通道占用3 个位 对于每个要转换的通道，采样时间建议尽量长一点，以获得较高的准确度，但是这样会降低ADC的转换速率。ADC的转换时间可以由下式计算： Tcovn=采样时间+12.5 个周期 第四个要介绍的是ADC 规则序列寄存器（ADC_SQR1~3）, 第五个要介绍的是ADC 规则数据寄存器(ADC_DR)。 最后一个要介绍的ADC 寄存器为 ADC 状态寄存器（ADC_SR），该寄存器保存了 ADC 转换时的各种状态。 三．实验内容 一．实验步骤 1）开启PA口时钟，设置PA0为模拟输入。 STM32F103RBT6的ADC通道0在PA0上，所以，我们先要使能PORTA的时钟，然后设置PA0为模拟输入。 2）使能ADC1时钟，并设置分频因子。 要使用ADC1，第一步就是要使能ADC1的时钟，在使能完时钟之后，进行一...