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相位法光速测量

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相位法光速测量实验本实验采用内调制被测信号的光强,测量光强调制波传播距离变化所引起的相应相位变化,最终测定光速,并可以测量有机玻璃、人造水晶、无水乙醇等介质的折射率。一、实验目的1、了解相位法测量光速的频率和波长,从而确定光速的实验原理。2、学会用相位法测量光速以及介质折射率。二、实验仪器实验装置: 导轨(长 1m,包含半导体激光器、 调制及接收装置)、90 反射镜、介质测量装置、f50 透镜数字相位计、示波器三、实验原理采用频率为 f 的正弦型调制波, 调制波在传播过程中其位相是以2为周期变化的。表达式为: I=I0 [1+mcos2 f(t-x/t)] (1) 式中 m为调制度, cos2f (t-x/t)表示光在测线上转播的过程中,其强度的变化犹如一个频率为f 的正弦波以光速 c 沿 x 方向转播。设测线上 A 和 B 两点的位置坐标分别为x 1和 x 2 ,当这两点之间的距离为调制波波长的整数倍时,该两点间的相位差为:212 () /2x xn(2)式中 n 为整数。反过来,如果我们能在光的传播路径中找到调制度的等相位点, 并准确测量它们之间的距离, 那么这距离一定是波长的整数倍。设由 A 点出发的调制波,经时间t 后转播到 A 点, AA 之间的距离为 2D。则 A 点相对于 A 点的相移为=wt=2ft, 如图 1(a)所示。然而我们不可能用一台测相系统对AA 间的这个相移量进行直接测量。解决这个问题的较好方法是在AA 的中间 B设置一个反射器,由A 点发出的调制波经反射器反射返回A 点,如图 1(b)所示,光线由ABA 所走过的光程为 2D,而且在 A 点反射波的位相落后=wt。如果以入射波作为参考信号(或作为基准信号),将它与反射波(以下称为被测信号) 分别输入到相位计的两个输入端,由相位计读出基准信号和被测信号之间的相位差。图 1 位相法测波长原理图本实验正是基于上述原理, 实验原理图如图2 所示,激光器将晶体振荡器 G2产生的频率 100MHz的晶振信号对光强进行调制形成光电调制波,该光信号经 90 反射镜返回,经一透镜会聚到光电二极管PIN,PIN 将收到的光调制信号进行光电转换,输出与LED同频的信号经放大器放大后送入混频器2,与加在该混频器上的本机振荡器G1 产生的100.300MHz的晶振信号混频,得到差频为300KHz的信号,该信号通过移相器送入示波器 Y 轴。与此同时, G2产生的 100MHz的晶振信号送入混频器 1,与加在该混频器上的由G1 产生的 100.300MHz的晶振信号进行混频,...

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