数字系统测试与可测性设计实验指导书ATPG应用VIP专享

1 《数字系统测试与可测性设计》 实验指导书（二） 实验教师： 2012 年4 月9 日 I． 实验名称和目的 实验名称：ATPG 应用 实验目的：了解Mentor 公司的FastScan-(ATPG 生成工具)业界最杰出的测试向量自动生成工具。了解测试各种基准电路的标准输入格式，运用FastScan 工具生成测试向量。深入理解单固定故障模型相关概念。 II．实验前的预习及准备工作： 1、 充分理解课堂上学习的故障模型相关概念。 2、 Mentor 公司的测试相关工具的介绍 缩略语清单： ATPG ：Au tomatic Test Pattern Generation ATE ：Au tomated Test Equ ipment BIST ：Built In Self Test CUT ：Chip/Circu it Under Test DFT ：Design For Testability DRC ：Design Rule Checking PI ：Primary Inpu t PO ：Primary Ou tpu t 组合ATPG 生成工具FastScan FastScan 是业界最杰出的测试向量自动生成（ATPG）工具，为全扫描IC 设计或规整的部分扫描设计生成高质量的测试向量。FastScan 支持所有主要的故障类型，它不仅可以对常用的Stuck-at 模型生成测试向量，还可针对transition 模型生成at-speed 测试向量、针对IDDQ 模型生成IDDQ 测试向量。此外FastScan 还可以利用生成的测试向量进行故障仿真和测试覆盖率计算。 另外，FastScan MacroTest 模块支持小规模的嵌入模块或存储器的测试向量生成。针对关键时序路径，Fastscan CPA 模块可以进行全面的分析。 主要特点： •支 持 对 全 扫 描 设计和规 整 的部 分扫 描 设计自动生成高 性能 、高 质 量的测试向量； •提 供 高 效 的静 态 及动态 测试向量压 缩性能 ，保 证 生成的测试向量数量少 ，质 量高 ； •支 持 多 种故障模型：stuck-at、toggle、transition、critical path和IDDQ; •支 持 多 种扫 描 类 型：多 扫 描 时 钟电路，门控时 钟电路和部 分规 整 的非扫 描 电路结构； •支 持 对 包含BIST电路，RAM/ROM和透明Latch的电路结构生成ATPG； •支 持 多 种测试向量类 型：Basic,clock-sequential,RAM-Sequential,clock PO,Multi-load; •利用简易的Procedure文件，可以很方便地与其他测试综合工具集成； •通过进行超过140条基于仿 真 的测试设计规 则 检 查 ，保 证 高 质 量的测试向量生成； •FastScan CPA 选 项 支 持 at-speed测试用的...