电脑桌面
添加小米粒文库到电脑桌面
安装后可以在桌面快捷访问

数字系统测试与可测性设计实验指导书ATPG应用

数字系统测试与可测性设计实验指导书ATPG应用_第1页
1/22
数字系统测试与可测性设计实验指导书ATPG应用_第2页
2/22
数字系统测试与可测性设计实验指导书ATPG应用_第3页
3/22
1 《数字系统测试与可测性设计》 实验指导书(二) 实验教师: 2012 年4 月9 日 I. 实验名称和目的 实验名称:ATPG 应用 实验目的:了解Mentor 公司的FastScan-(ATPG 生成工具)业界最杰出的测试向量自动生成工具。了解测试各种基准电路的标准输入格式,运用FastScan 工具生成测试向量。深入理解单固定故障模型相关概念。 II.实验前的预习及准备工作: 1、 充分理解课堂上学习的故障模型相关概念。 2、 Mentor 公司的测试相关工具的介绍 缩略语清单: ATPG :Au tomatic Test Pattern Generation ATE :Au tomated Test Equ ipment BIST :Built In Self Test CUT :Chip/Circu it Under Test DFT :Design For Testability DRC :Design Rule Checking PI :Primary Inpu t PO :Primary Ou tpu t 组合ATPG 生成工具FastScan FastScan 是业界最杰出的测试向量自动生成(ATPG)工具,为全扫描IC 设计或规整的部分扫描设计生成高质量的测试向量。FastScan 支持所有主要的故障类型,它不仅可以对常用的Stuck-at 模型生成测试向量,还可针对transition 模型生成at-speed 测试向量、针对IDDQ 模型生成IDDQ 测试向量。此外FastScan 还可以利用生成的测试向量进行故障仿真和测试覆盖率计算。 另外,FastScan MacroTest 模块支持小规模的嵌入模块或存储器的测试向量生成。针对关键时序路径,Fastscan CPA 模块可以进行全面的分析。 主要特点: •支 持 对 全 扫 描 设计和规 整 的部 分扫 描 设计自动生成高 性能 、高 质 量的测试向量; •提 供 高 效 的静 态 及动态 测试向量压 缩性能 ,保 证 生成的测试向量数量少 ,质 量高 ; •支 持 多 种故障模型:stuck-at、toggle、transition、critical path和IDDQ; •支 持 多 种扫 描 类 型:多 扫 描 时 钟电路,门控时 钟电路和部 分规 整 的非扫 描 电路结构; •支 持 对 包含BIST电路,RAM/ROM和透明Latch的电路结构生成ATPG; •支 持 多 种测试向量类 型:Basic,clock-sequential,RAM-Sequential,clock PO,Multi-load; •利用简易的Procedure文件,可以很方便地与其他测试综合工具集成; •通过进行超过140条基于仿 真 的测试设计规 则 检 查 ,保 证 高 质 量的测试向量生成; •FastScan CPA 选 项 支 持 at-speed测试用的...

1、当您付费下载文档后,您只拥有了使用权限,并不意味着购买了版权,文档只能用于自身使用,不得用于其他商业用途(如 [转卖]进行直接盈利或[编辑后售卖]进行间接盈利)。
2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。
3、如文档内容存在违规,或者侵犯商业秘密、侵犯著作权等,请点击“违规举报”。

碎片内容

数字系统测试与可测性设计实验指导书ATPG应用

确认删除?
VIP
微信客服
  • 扫码咨询
会员Q群
  • 会员专属群点击这里加入QQ群
客服邮箱
回到顶部