IC功能测试理论

DUT 电源电平输入电平VDDMin/MaxVIL/VIHVOL/VOHIOL/IOHVREFIOL/IOHTestFrequencyInputSignalTimings功能测试理论1.基础术语摘要：本章节包含以下内容,功能测试简介功能测试要求输入/输出信号的建立功能测试的一些方法基础术语功能测试包含一些新的术语，这里先简单介绍一下：OutputMask 输出屏蔽，一种在功能测试期间让测试通道的输出比较功能打开或关闭的方法，可以针对单独的 pin 在单独的周期实施。OutputSampling 输出采样，在功能测试中，DUT 的输出信号在周期内的某个时间点被评估的过程。PE 卡上的比较电路会将输出电压和预先设定的逻辑 1(VOH)和逻辑 0(VOL)相比较，然后测试系统做出pass 或 fail 的判断。OutputSampling 也称为“Strobing”。TestPattern 测试向量(国内很多资料将其译为“测试模式”)，是器件一系列所设计的逻辑功能的输入输出状态的描述。输入数据由测试系统提供给 DUT，输出数据则用于和 DUT 的输出响应相比较。在功能测试期间，测试向量施加到 DUT 并运行，当其中的一个期望输出与器件的实际输出不匹配时，一个 failure就产生了。Testpattern 也称为“TestVectors”或“TruthTables(真值表)”。TestVectors 的说法更强调时序性，指逻辑电平的一系列 0、1 序列或其他表征。SignalFormat 信号格式，PE 驱动电路提供的输入信号的波形。功能测试功能测试是验证 DUT 是否能正确实现所设计的逻辑功能，为此，需生成测试向量或真值表以检测 DUT 中的错误，真值表检测错误的能力可用故障覆盖率衡量，测试向量和测试时序组成功能测试的核心。当执行功能测试时，必须考虑 DUT 性能的所有方面，必须仔细检查下列项的准确值：输出电平输出电流负载切换点测试频率/周期时钟/建立时间/保持时间/控制信号输入波形周期内何时采样向量文件的起始/终止点从上表可以看出，在功能测试中需要利用测试系统的大部分资源，所有的功能测试都有两个不同的部分组成，主测试程序中的测试向量文件和指令集。测试向量文件代表需测试的 DUT 的输入输出逻辑状态，测试程序包括控制测试硬件产生必需的电压、波形和时序需要的信息。VectorDataInputEindQutputTimingandFormattingControlsFormattedInpnt 匸 i 召 tdPinElectronics(PE)CardsInputStates(1110010100)l;0ControlTimeSe*tSelectOutplitStates(LZHLHZLHHL)6ill 屮 itMaskingInputTiming,FQIIIIatsan(ILOControlI/OControlriveInputTimingandFormatUhmT...