D D R 的基本原理与工作过程 一、DDR 的基本原理与工作过程 这种内部存储单元容量(也可以称为芯片内部总线位宽)=2×芯片位宽(也可称为芯片 I/O 总线位宽)的设计,就是所谓的两位预取(2-bit Prefetch),有的公司则贴切的称之为 2-n Prefetch(n 代表芯片位宽)
在实际工作中,L-Bank 地址与相应的行地址是同时发出的,此时这个命令称之为“行有效”或“行激活”(Row Active)
在此之后,将发送列地址寻址命令与具体的操作命令(读或写),这两个命令也是同时发出的,所以一般都会以“读/写命令”来表示列寻址
根据相关的标准,从行有效到读/写命令发出之间的间隔被定义为 tRCD,即 RAS to CAS Delay(RAS至 CAS 延迟,RAS 就是行地址选通脉冲,CAS 就是列地址选通脉冲),大家也可以理解为行选通周期
tRCD 是 SDRAM 的一个重要时序参数,可以通过主板 BIOS 经过北桥芯片进行调整
广义的tRCD 以时钟周期(tCK,Clock Time)数为单位,比如 tRCD=2,就代表延迟周期为两个时钟周期,具体到确切的时间,则要根据时钟频率而定:对于 PC100 SDRAM(时钟频率等同于 DDR-200),tRCD=2,代表 20ns 的延迟;对于 PC133(时钟频率等于 DDR-266)则为 15ns
相关的列地址被选中之后,将会触发数据传输,但从存储单元中输出到真正出现在内存芯片的 I/O 接口之间还需要一定的时间(数据触发本身就有延迟,而且还需要进行信号放大),这段时间就是非常著名的CL(CAS Latency,列地址脉冲选通潜伏期)
CL 的数值与 tRCD 一样,以时钟周期数表示
如 DDR-400,时钟频率为 200MHz,时钟周期为 5ns,那么 CL=2 就意味着 10ns 的潜伏期