精品文档---下载后可任意编辑电子封装用高导热低膨胀率 W/Cu 复合材料的讨论的开题报告1.讨论背景和意义在电子制造行业中，封装材料的好坏直接关系到电子设备的性能和寿命。而随着电子设备的不断升级和进展，对材料性能的要求也越来越高。目前普遍使用的封装材料铜基板导热性能较好，但由于热膨胀系数与芯片不匹配，容易导致芯片失配损坏。因此讨论开发一种高导热低膨胀率的复合材料是十分必要的。2.讨论内容和方法本讨论的主要内容是讨论开发一种高导热低膨胀率的 W/Cu 复合材料，并对其性能进行评价。具体讨论方法如下：（1）制备 W/Cu 复合材料。通过热压法或电浆喷涂技术将 W 和 Cu压制成复合板材。（2）对复合材料进行性能测试。包括热导率、膨胀系数、强度和硬度等指标。（3）分析复合材料的微观结构和化学成分。使用扫描电镜、能谱分析等技术对复合材料进行表征。3.预期结果和应用价值估计讨论可以成功制备出高导热低膨胀率的 W/Cu 复合材料。通过对其性能进行评估，可以证明该材料具有高导热性能和低膨胀率的优点，可以满足电子封装材料的要求。该讨论的成果将能够应用于电子设备制造领域，提高电子设备的性能和寿命，具有很好的经济和社会效益。
