实验2 PN 结二极管特性仿真 1、实验内容 (1)PN 结穿通二极管正向 I-V 特性、反向击穿特性、反向恢复特性等仿真
(2)结构和参数:PN结穿通二极管的结构如图1所示,两端高掺杂,n-为耐压层,低掺杂,具体参数:器件宽度4μm,器件长度20μm,耐压层厚度16μm,p+区厚度2μm,n+区厚度2μm
掺杂浓度:p+区浓度为1×1019cm-3,n+区浓度为1×1019cm-3,耐压层参考浓度为5×1015 cm-3
图 1 普通耐压层功率二极管结构 2、实验要求 (1)掌握器件工艺仿真和电气性能仿真程序的设计 (2)掌握普通耐压层击穿电压与耐压层厚度、浓度的关系
3、实验过程 #启动 Athena go athena #器件结构网格划分; line x loc=0
0 spac= 0
4 line x loc=4
0 spac= 0
4 line y loc=0
0 spac=0
5 line y loc=2
0 spac=0
1 line y loc=10 spac=0
5 line y loc=18 spac=0
1 line y loc=20 spac=0
5 #初始化 Si 衬底; init silicon c
phos=5e15 orientation=100 two
d #沉积铝; deposit alum thick=1
1 div=10 #电极设置 electrode name=anode x=1 electrode name=cathode backside #输出结构图 structure outf=cb0
str tonyplot cb0
str #启动 Atlas go atlas #结构描述 0 W p+ n- n+ doping p
type conc=1e20 x
min=0 y