光源目标光学系统探测器01.010精品文档---下载后可任意编辑九个基本原则：一．匹配原则（光电匹配、精度匹配）见 P12光电匹配是系统设计中必须考虑的问题。其内容主要包括1）根据被测目标的辐射特性，合理选择满足目标光谱特性的光源（包括光源的光谱特性、功率、寿命、灯丝形状等）。2）根据被测信号的光谱特性选择与之匹配的光电探测器（包括深测器的频率响应，光谱响应、灵敏度、暗电流、探测器形状等）。3)根据光源、探测器特性和总体要求设计与之匹配的光学系统（照明系统和光电变换光学系统）。其中包括光学元件材料的选取，膜系设计等。2.精度匹配在光电系统的精度设计中，光、机、电各部分的精度一般应该和系统总精度相匹配，而系统总精度也应与使用要求相适应，无限制的提高系统的总精度不仅对检测无益，而且还会导致成本提高，稳定性下降。根据实际设计经验，拟出以下几条作为设计时参考：1）．测量系统的总精度值可根据被测工件的公差值和同一尺寸被测量的次数或成品筛选的合格率要求确定。一般为：测量系统总精度应为被测工件的公差值的 1/2~1/10；2).仪器的分辨率（或最小脉冲当量）一般取仪器总精度的 1/2~1/5；3).在精度设计时，仪器的总系统误差一般为仪器总误差的 1/3。例：被测件的公差=|0.01-(-0.01)|=则光电检测系统总精度=(1/2~1/10)×0.02=0.01~2mm仪器的总系统误差 2)×1/3 mm二．阿贝比较原则三．运动学原则原动件数目等于自由度数，按自由度确定约束数。四．统一基面原则（设计、工艺、测量基准统一）五．最小变形原则使仪器变形小（刚度大、热稳定性好），补偿变形。六．经济原则社会价值 V=F/CF：产品功能；C：成本。要求：功能多、成本低，则价值高。瞄准显微镜M1M2悬臂支架XYZa标准件被测件YXZφM1M2M1′M2′｝δ1标准件轴线被测件轴线精品文档---下载后可任意编辑七．系列化原则八．通用化原则九．标准化原则§2-1 阿贝比较原则一．结构型式对测量误差的影响1. 并联型式(一) 导轨无误差,则没影响(二) 导轨有误差时:①. 悬臂支架沿 X, Y, Z 轴平移,两个显微镜作同样运动,则对测量无影响。(导轨有间隙的情况)②. 悬臂支架绕 X、Z 轴转动, 则对测量无影响。(绕 X 轴转动,离焦,不影响测量; 绕 Z 轴转动, 显微镜在 X 方向移动量相同, 不影响测量)③. 绕 Y 轴转动, 对测量有影响δ1=a·tgφ =a·(φ+1/3φ3+2/15φ5+…)≈a·φ (一阶误差, 即阿贝误差)例: 令 a=100mmφ=10″秒...
