实验一 基本门电路的逻辑功能测试 一、实验目的 1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。 2、了解测试的方法与测试的原理。 二、实验原理 实验中用到的基本门电路的符号为： 在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。 三、实验设备与器件 1、数字逻辑电路用 PROTEUS 2、显示可用发光二极管。 3、相应 74LS 系列、CC4000 系列或 74HC 系列芯片若干。 四、实验内容 1. 测试 TTL 门电路的逻辑功能： a） 测试 74LS08 的逻辑功能。(与门)000 010 100 111 b） 测试 74LS32 的逻辑功能。（或门）000 011 101 111 c） 测试 74LS04 的逻辑功能。（非门）01 10 d） 测试 74LS00 的逻辑功能。（两个都弄得时候不亮，其他都亮）（与非门）（如果只接一个的话，就是非门）001 011 101 110 e） 测试 74LS02（或非门）的逻辑功能。（两个都不弄得时候亮，其他不亮）001 010 100 110 f） 测试 74LS86（异或门）的逻辑功能。 2. 测试 CMOS 门电路的逻辑功能：在 CMOS 4000 分类中查询 a） 测试 CC4081(74HC08)的逻辑功能。（与门） b） 测试 CC4071(74HC32)的逻辑功能。（或门） c） 测试 CC4069(74HC04)的逻辑功能。（非门） d） 测试 CC4011(74HC00)的逻辑功能。（与非门）（如果只接一个的话，就是非门） e） 测试CC4001(74HC02)（或非门）的逻辑功能。 f) 测试CC4030(74HC86)（异或门）的逻辑功能。 五、实验报告要求 1. 画好各门电路的真值表表格，将实验结果填写到表中。 2. 根据实验结果，写出各逻辑门的逻辑表达式，并分析如何判断逻辑门的好坏。 3. 比较一下两类门电路输入端接入电阻或空置时的情况。 4．查询各种集成门的管脚分配，并注明各个管脚的作用与功能。 例：74LS00 与门 Y=AB 输入 输出 A B Y 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 123U1:A74LS08D1LED-RED11 74LS32 或门 Y =A B 输入 输出 A B Y 0 0 0 1 1 1 1 1 1 1 1 1 74LS04 输出 A Y 0 0 0 0 1 0 1 1 74LS02 74LS86 任意一个连都亮，两个都连不亮 （2 ） C C 4081 两个都连得时候亮，其他都不亮 C C 4071 两个都不连的时候不亮，其他都亮
