XRD 基本原理-xrd基本原理

一文瞧懂Ｘ R Ｄ基本原理（必收藏)XRD 全称 X 射线衍射（X－Ray Diffraction），利用Ｘ射线在晶体中得衍射现象来获得衍射后 X 射线信号特征,经过处理得到衍射图谱。利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜得确定物相,并拥有“透视眼”来瞧晶体内部就是否存在缺陷（位错）与晶格缺陷等，下面就让咱们来简要得了解下Ｘ RD 得原理及应用与分析方法,下面先从 XR Ｄ原理学习开始。1X 射线衍射仪得基本构造XRD 衍射仪得适用性很广，通常用于测量粉末、单晶或多晶体等块体材料，并拥有检测快速、操作简单、数据处理方便等优点,就是一个标标准准得“良心产品”。在 X 射线衍射仪得世界里, Ｘ射线发生系统（产生 X 射线)就是“太阳”,测角及探测系统（测量２ θ 与获得衍射信息）就是其“眼睛”，记录与数据处理系统就是其“大脑”,三者协同工作，输出衍射图谱。在三者中测角仪就是核心部件，其制作较为复杂,直接影响实验数据得精度，毕竟眼睛就是心灵得窗户嘛！下面就是 X 射线衍射仪与测角仪得结构简图.Ｘ R Ｄ结构简图XR Ｄ立式测角仪２ Ｘ射线产生原理Ｘ射线就是一种频率很高得电磁波，其波长为 10-8—10-１２ｍ远比可见光短得多,因为其穿透力很强，并且其在磁场中得传播方向不受影响。小提示:X 射线具有一定得辐射,对人体有一定得副作用，目前主要铅玻璃来进行屏蔽。X 射线就是由高速运动得电子流或其她高能辐射流（γ 射线、中子流等)流与其她物质发生碰撞时突然减速,且与该物质中得内层原子相互作用而产生得.Ｘ射线管得结构不同得靶材，因为其原子序数不同，外层得电子排布也不一样，所以产生得特征 X 射线波长不同.使用波长较长得靶材得Ｘ R Ｄ所得得衍射图峰位沿２ θ 轴有规律拉伸；使用短波长靶材得 XRD 谱沿 2θ 轴有规律地被压缩.但需要注意得就是，不管使用何种靶材得 X 射线管，从所得到得衍射谱中获得样品面间距 d 值就是一致得，与靶材无关。辐射波长对衍射峰强得关系就是:衍射峰强主要取决于晶体结构，但就是样品得质量吸收系数(Ｍ AC)与入射线得波长有关,因此同一样品用不同耙获得得图谱上得衍射峰强度会有略微得差别.特别就是混合物,各相之间得 MAC 都随所选波长而变化，波长选择不当很可能造成 XRD 定量结果不准确.因为不同元素 MA Ｃ突变拥有不同得波长，该波长就称为材料得吸收限,若超过了这个范围就会出现强得荧光散射。所以分析样品中得元素选择靶材时，一般选择原子序数比靶得...