实验报告一、实验室名称:霍尔效应实验室二、实验项目名称:霍尔效应法测磁场三、实验学时:四、实验原理:(一)霍耳效应现象将一块半导体(或金属)薄片放在磁感应强度为B的磁场中,并让薄片平面与磁场方向(如Y方向)垂直
如在薄片的横向(X方向)加一电流强度为的电流,那么在与磁场方向和电流方向垂直的Z方向将产生一电动势
如图1所示,这种现象称为霍耳效应,称为霍耳电压
霍耳发现,霍耳电压与电流强度和磁感应强度B成正比,与磁场方向薄片的厚度d反比,即(1)式中,比例系数R称为霍耳系数,对同一材料R为一常数
因成品霍耳元件(根据霍耳效应制成的器件)的d也是一常数,故常用另一常数K来表示,有(2)式中,K称为霍耳元件的灵敏度,它是一个重要参数,表示该元件在单位磁感应强度和单位电流作用下霍耳电压的大小
如果霍耳元件的灵敏度K知道(一般由实验室给出),再测出电流和霍耳电压,就可根据式(3)算出磁感应强度B
图1霍耳效应示意图图2霍耳效应解释(二)霍耳效应的解释现研究一个长度为l、宽度为b、厚度为d的N型半导体制成的霍耳元件
当沿X方向通以电流后,载流子(对N型半导体是电子)e将以平均速度v沿与电流方向相反的方向运动,在磁感应强度为B的磁场中,电子将受到洛仑兹力的作用,其大小为方向沿Z方向
在的作用下,电荷将在元件沿Z方向的两端面堆积形成电场(见图2),它会对载流子产生一静电力,其大小为方向与洛仑兹力相反,即它是阻止电荷继续堆积的
当和达到静态平衡后,有,即,于是电荷堆积的两端面(Z方向)的电势差为(4)通过的电流可表示为式中n是电子浓度,得(5)将式(5)代人式(4)可得可改写为该式与式(1)和式(2)一致,就是霍耳系数
五、实验目的:研究通电螺线管内部磁场强度六、实验内容:(一)测量通电螺线管轴线上的磁场强度的分布情况,并与理论值相比较;(二)研究通电螺线管内部磁场强度与励磁电流的关系